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多层导电结构内部状态脉冲涡流检测与评估方法研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第13-22页
    1.1 研究背景及意义第13页
    1.2 无损检测技术概述第13-16页
        1.2.1 无损检测与评估方法第13-15页
        1.2.2 脉冲涡流检测概述第15-16页
    1.3 国内外研究进展第16-19页
        1.3.1 脉冲涡流检测技术研究热点第16-17页
        1.3.2 导电结构脉冲涡流检测和评估方法研究进展第17-19页
        1.3.3 研究进展小结和需要进一步研究的问题第19页
    1.4 课题的提出和论文主要研究内容第19-22页
第二章 脉冲涡流检测技术基础第22-33页
    2.1 脉冲涡流检测系统物理模型第22-23页
    2.2 脉冲涡流检测原理第23-25页
    2.3 脉冲涡流渗透深度第25-27页
    2.4 脉冲涡流响应信号分析第27-31页
        2.4.1 脉冲涡流响应信号典型时域特征分析第27-28页
        2.4.2 内部缺陷对脉冲涡流响应信号的影响第28-31页
        2.4.3 提离对脉冲涡流响应信号的影响第31页
    2.5 本章小结第31-33页
第三章 多层导电结构内部缺陷检测和位置判断方法研究第33-48页
    3.1 引言第33-34页
    3.2 多层导电结构内部缺陷检测第34-35页
    3.3 多层导电结构内部缺陷位置判断特征分析第35-38页
        3.3.1 主成分分析第35-36页
        3.3.2 Fisher线性判别分析第36-38页
    3.4 遗传算法优化的支持向量机缺陷位置判断方法第38-43页
        3.4.1 支持向量机缺陷位置判断第38-40页
        3.4.2 遗传算法参数寻优第40-42页
        3.4.3 遗传算法优化的支持向量机缺陷位置判断第42-43页
    3.5 多层导电结构内部缺陷位置判断实验和分析第43-47页
    3.6 本章小结第47-48页
第四章 多层导电结构内部缺陷深度定量评估方法研究第48-63页
    4.1 引言第48-49页
    4.2 检测信号特征量与缺陷深度之间映射关系第49-53页
        4.2.1 典型时域特征量与缺陷深度的映射关系第50-52页
        4.2.2 主成分特征量与缺陷深度的映射关系第52-53页
    4.3 多层导电结构内部缺陷深度脉冲涡流评估方法第53-56页
        4.3.1 基于偏小二乘回归的深度评估第53-54页
        4.3.2 基于支持向量机回归的深度评估第54-56页
    4.4 多层导电结构内部缺陷深度评估实验第56-58页
        4.4.1 试件参数第56-57页
        4.4.2 实验方案第57-58页
    4.5 内部缺陷深度定量实验结果和分析第58-62页
        4.5.1 偏最小二乘深度定量评估结果及分析第58-59页
        4.5.2 支持向量机深度定量评估结果及分析第59-60页
        4.5.3 偏最小二乘和支持向量机回归分析比较第60-62页
    4.6 本章小结第62-63页
第五章 脉冲涡流检测原型系统和应用案例第63-73页
    5.1 脉冲涡流检测原型系统第63-69页
        5.1.1 系统架构第63-64页
        5.1.2 硬件系统第64-66页
        5.1.3 软件系统第66-69页
    5.2 脉冲涡流多层结构检测应用案例第69-72页
        5.2.1 试件参数第69-70页
        5.2.2 检测方案和结果分析第70-72页
    5.3 本章小结第72-73页
第六章 论文工作总结和展望第73-75页
    6.1 工作总结第73-74页
    6.2 展望第74-75页
参考文献第75-79页
致谢第79-80页
个人简历第80-81页
攻读学位期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第81页

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