| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-39页 |
| ·课题背景和意义 | 第15-16页 |
| ·表面粗糙度测量方法的研究进展 | 第16-32页 |
| ·比较测量法 | 第17-18页 |
| ·机械轮廓仪法 | 第18页 |
| ·电子显微镜法 | 第18-20页 |
| ·光学法 | 第20-32页 |
| ·内表面粗糙度测量技术的研究现状 | 第32-36页 |
| ·目前光纤表面粗糙度传感器存在的主要问题 | 第36-37页 |
| ·课题的主要研究内容 | 第37-39页 |
| 第2章 RIM 型光纤内表面粗糙度传感器的原理分析与设计 | 第39-54页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·RIM-FOS 的工作原理分析 | 第39-45页 |
| ·单光纤对有效受光面积计算 | 第39-43页 |
| ·单光纤对的光强调制函数 | 第43-44页 |
| ·RIM-FOS 的工作原理 | 第44-45页 |
| ·光纤表面粗糙度传感器设计要点分析 | 第45-49页 |
| ·单光纤对基本参数分析 | 第45-46页 |
| ·光纤束端面结构分析 | 第46-47页 |
| ·光纤选择 | 第47-49页 |
| ·RIM 型光纤表面粗糙度传感器的创新设计 | 第49-51页 |
| ·光纤内表面粗糙度传感器的改进设计 | 第51-53页 |
| ·微反射棱镜的光学特性分析 | 第51-52页 |
| ·传感头结构改进 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第3章 RIM-FOS 测表面粗糙度的理论建模与分析 | 第54-71页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·RIM-FOS 的强度调制建模 | 第54-58页 |
| ·出射光强高斯分布假设下的单光纤对光强调制函数 | 第55-57页 |
| ·光纤束RIM-FOS 的强度调制函数 | 第57-58页 |
| ·粗糙表面的强度调制建模 | 第58-65页 |
| ·粗糙表面的分类及统计描述 | 第58-59页 |
| ·粗糙表面散射建模的理论分析 | 第59-64页 |
| ·粗糙表面的光强调制函数 | 第64-65页 |
| ·RIM-FOS 测量表面粗糙度的理论模型 | 第65-66页 |
| ·孔内表面粗糙度测量的关键因素分析 | 第66-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第4章 RIM 型光纤表面粗糙度传感器强度调制特性的实验研究 | 第71-91页 |
| ·引言 | 第71页 |
| ·光纤传感器的制作 | 第71-73页 |
| ·传感器I 的制作 | 第71-72页 |
| ·传感器II 的制作 | 第72-73页 |
| ·传感器I 的特性标定及性能分析 | 第73-78页 |
| ·有源器件的选择 | 第74-75页 |
| ·传感器I 的特性标定实验 | 第75-76页 |
| ·传感器I 的强度调制特性分析 | 第76-78页 |
| ·传感器II 的特性标定及性能分析 | 第78-84页 |
| ·传感器II 的特性标定实验 | 第78页 |
| ·传感器II 的强度调制特性分析 | 第78-84页 |
| ·传感器强度调制特性的归一化分析 | 第84-89页 |
| ·RIM-FOS 输出特性的影响因素分析 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第5章 孔内表面粗糙度的光纤传感测量 | 第91-103页 |
| ·引言 | 第91页 |
| ·光纤内表面粗糙度测量系统 | 第91-92页 |
| ·测量系统结构 | 第91页 |
| ·测量系统工作原理 | 第91-92页 |
| ·孔内侧表面的粗糙度测量 | 第92-98页 |
| ·取样长度和评定参数的选择 | 第93-94页 |
| ·孔内表面粗糙度测量关系曲线的标定 | 第94-97页 |
| ·孔内表面粗糙度测量结果分析 | 第97-98页 |
| ·测量方法有效性分析 | 第98-99页 |
| ·测量结果影响因素分析 | 第99-102页 |
| ·光源的影响 | 第99-100页 |
| ·背景光的影响 | 第100页 |
| ·表面加工方式和表面材料的影响 | 第100页 |
| ·采样控制的影响 | 第100-102页 |
| ·其它因素的影响 | 第102页 |
| ·本章小结 | 第102-103页 |
| 结论 | 第103-105页 |
| 参考文献 | 第105-119页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第119-121页 |
| 致谢 | 第121-122页 |
| 个人简历 | 第122页 |
