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基于51MX的JTAG接口的设计与仿真

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-12页
   ·研究背景第8-11页
     ·可测性设计第8页
     ·可测性设计的常用方法第8-11页
     ·JTAG 的由来第11页
   ·本论文研究意义及内容第11-12页
第二章 JTAG 协议第12-24页
   ·概述第12页
   ·测试访问端口(TAP)第12-13页
     ·测试时钟信号 TCK第13页
     ·模式选择信号 TMS第13页
     ·测试数据输入信号 TDI第13页
     ·测试数据输出信号 TDO第13页
     ·复位信号 TRST第13页
   ·测试逻辑架构第13-14页
     ·概述第13-14页
     ·测试逻辑的实现第14页
   ·TAP 控制器第14-20页
     ·TAP Controller 状态机第15页
     ·TAP Controller 各状态描述第15-18页
     ·TAP Controller 的操作第18-20页
   ·指令及指令寄存器第20页
     ·指令第20页
     ·指令寄存器第20页
   ·测试数据寄存器第20-22页
   ·本章小结第22-24页
第三章 51MX第24-34页
   ·单片机简介第24-26页
   ·51MX 介绍第26-27页
   ·51MX 功能概述第27-28页
   ·主要引脚及其功能介绍第28-29页
   ·特殊功能寄存器(SFR)简介第29-30页
   ·存储器管理第30-31页
     ·物理空间分配图第30-31页
     ·物理地址的分配方案第31页
   ·51MX 指令系统介绍第31-33页
     ·指令第31-32页
     ·指令寻址方式第32-33页
   ·本章小结第33-34页
第四章 JTAG 接口的设计实现及仿真第34-60页
   ·JTAG 接口功能框图第34页
   ·接口支持指令介绍第34-35页
   ·各功能模块实现情况第35-40页
     ·RWREG 模块第36-39页
     ·BREAKPOINT 模块第39页
     ·STEP 模块第39-40页
     ·TAP 控制器模块第40页
   ·设计中关键技术第40-48页
     ·单 bit 信号跨时钟域处理第41-45页
     ·多 bit 信号跨时钟域处理第45-46页
     ·边沿检测第46-47页
     ·脉冲检测电路第47-48页
     ·各个跨时钟域方法的使用条件第48页
   ·各功能仿真结果第48-51页
     ·读写内部 RAM第49页
     ·读写外部 RAM第49-50页
     ·外部 ROM 读操作第50页
     ·断点设置第50页
     ·单步执行功能第50-51页
   ·JTAG 接口的综合第51-58页
     ·逻辑综合概述第51-52页
     ·综合脚本第52-55页
     ·本设计综合脚本第55-57页
     ·综合结果说明第57-58页
   ·本章小结第58-60页
第五章 JTAG 接口的 FPGA 验证第60-66页
   ·FPGA 及 FPGA 验证的重要性第60页
   ·Spartan 3A 开发板简介第60-61页
   ·FPGA 验证方案及流程第61-63页
   ·仿真结果说明第63-65页
   ·本章小结第65-66页
第六章 结论与展望第66-68页
   ·结论第66页
   ·展望第66-68页
致谢第68-70页
参考文献第70-72页

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