| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-15页 |
| 第一章 引言 | 第15-31页 |
| ·质量测量的物理意义 | 第15-18页 |
| ·奇特原子核的产生与分离 | 第18-23页 |
| ·奇特原子核的产生 | 第18-21页 |
| ·奇特原子核的分离 | 第21-23页 |
| ·质量测量的方式 | 第23-31页 |
| ·间接质量测量方法 | 第24-25页 |
| ·直接质量测量方法 | 第25-31页 |
| 第二章 基于 HIRFL-CSR 的等时性质量测量谱仪 | 第31-49页 |
| ·HIRFL-CSR 的介绍 | 第32-33页 |
| ·基于储存环的质量测量原理 | 第33-36页 |
| ·飞行时间探测器 | 第36-49页 |
| ·微通道板探测器(MCP) | 第38-46页 |
| ·微通道板的时间性能 | 第41页 |
| ·微通道板的探测效率 | 第41-43页 |
| ·微通道板探测器计数能力 | 第43-46页 |
| ·碳膜、电势板、均压环、束诊孔 | 第46-49页 |
| 第三章 TOF 探测器外部脉冲高压电源的应用及性能提升 | 第49-83页 |
| ·脉冲电源的设计要求 | 第52-54页 |
| ·技术内容、形式和要求 | 第52-53页 |
| ·电源方案 | 第53-54页 |
| ·脉冲电源的离线测试 | 第54-56页 |
| ·离线测试的方法 | 第54页 |
| ·离线测试的结果 | 第54-56页 |
| ·脉冲电源的在线测试 | 第56-83页 |
| ·实验前准备 | 第56-58页 |
| ·实验过程 | 第58-60页 |
| ·数据分析 | 第60-82页 |
| ·确定离子的回旋周期 | 第61-72页 |
| ·平滑信号 | 第61-63页 |
| ·恒比定时 | 第63-68页 |
| ·追踪离子 | 第68-69页 |
| ·提取回旋周期 | 第69-72页 |
| ·鉴别离子 | 第72-76页 |
| ·探测器性能的比较 | 第76-82页 |
| ·探测效率与输出信号的平均幅度 | 第79-81页 |
| ·定时的精度 | 第81-82页 |
| ·脉冲电源应用总结 | 第82-83页 |
| 第四章 TOF 探测器内部结构的改进及性能提升 | 第83-119页 |
| ·使用双 TOF 谱仪的动机 | 第83-87页 |
| ·提高质量分辨的能力 | 第83-84页 |
| ·消除质量测量的系统偏差 | 第84-87页 |
| ·双 TOF 探测器的离线测试 | 第87-109页 |
| ·减小探测器输出信号上升时间 | 第87-95页 |
| ·提高信号传输线的带宽 | 第92-93页 |
| ·降低电子的漂移时间 | 第93-95页 |
| ·探测器探测效率的测量 | 第95-99页 |
| ·探测器的本征分辨的测量 | 第99-109页 |
| ·双 TOF 探测器的安装 | 第109-114页 |
| ·TOF 探测器的准直 | 第109-112页 |
| ·TOF 探测器的检漏 | 第112-113页 |
| ·TOF 探测器的烘烤 | 第113-114页 |
| ·TOF 探测器的在线测试 | 第114-119页 |
| 第五章 总结与展望 | 第119-127页 |
| ·总结 | 第119-121页 |
| ·展望 | 第121-127页 |
| 参考文献 | 第127-133页 |
| 附录一 电子在 TOF 探测器中的传输 | 第133-137页 |
| 附录二 高压脉冲电源的使用说明书 | 第137-143页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第143页 |