基于射频识别技术的冷链监管系统
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·RFID 技术的应用和发展历程 | 第8-9页 |
| ·RFID 技术的发展前景 | 第9页 |
| ·本文设计的 RFID 系统的技术特征 | 第9-12页 |
| 第二章 射频识别技术的基本原理 | 第12-24页 |
| ·RFID 技术的基本交互原理 | 第12页 |
| ·RFID 的工作频率分布 | 第12-13页 |
| ·RFID 系统的耦合和通信方式 | 第13-14页 |
| ·编码与调制 | 第14-17页 |
| ·RFID 技术中的数字调制法 | 第17-21页 |
| ·振幅键控（ASK） | 第17-19页 |
| ·使用副载波的负载调制法 | 第19-21页 |
| ·RFID 技术中需要解决的问题 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-24页 |
| 第三章 温度标签设计 | 第24-50页 |
| ·概述 | 第24-25页 |
| ·硬件选型 | 第25-29页 |
| ·微控制器的选择 | 第25-26页 |
| ·温度传感器的选择 | 第26-28页 |
| ·射频存储芯片的选择 | 第28页 |
| ·电源的选择 | 第28-29页 |
| ·温度标签的硬件电路设计 | 第29-35页 |
| ·温度传感器的电路设计 | 第29-30页 |
| ·电源设计 | 第30-31页 |
| ·编程入口的电路设计 | 第31-32页 |
| ·天线设计 | 第32-35页 |
| ·温度标签的功耗计算及优化 | 第35-36页 |
| ·温度标签 PCB | 第36-39页 |
| ·硬件测试部分 | 第39-48页 |
| ·关键点电压测试 | 第39页 |
| ·电流与工作周期测试 | 第39-40页 |
| ·睡眠时间精度测量 | 第40页 |
| ·I2C 信号质量测试 | 第40-41页 |
| ·阅读器到应答器的通信方式 | 第41-44页 |
| ·应答器到阅读器的通信方式 | 第44-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第四章 阅读器设计 | 第50-82页 |
| ·阅读器主器件选型 | 第50页 |
| ·阅读器的工作流程 | 第50-52页 |
| ·阅读器的硬件电路设计 | 第52-58页 |
| ·USB 端口电路 | 第52-53页 |
| ·电压转换电路 | 第53-54页 |
| ·外部晶振配置 | 第54页 |
| ·LED 灯的配置 | 第54-55页 |
| ·编程入口电路 | 第55-56页 |
| ·主器件引脚配置 | 第56-58页 |
| ·阅读器的天线设计 | 第58-66页 |
| ·天线设计概述 | 第59-60页 |
| ·天线的 Q 值 | 第60-61页 |
| ·匹配电路的选择与计算 | 第61-63页 |
| ·滤波部分 | 第63页 |
| ·接收电路 | 第63-64页 |
| ·天线匹配电路的参数计算 | 第64-66页 |
| ·阅读器 PCB | 第66-71页 |
| ·PCB 绘制及板上天线的设计总结 | 第71-72页 |
| ·PCB 绘制的要点 | 第71-72页 |
| ·板上天线的设计要点 | 第72页 |
| ·阅读器测试部分 | 第72-80页 |
| ·阅读器的开启测试 | 第72-73页 |
| ·读取 UID 测试 | 第73页 |
| ·单块读写数据测试 | 第73-74页 |
| ·电压和电流测试 | 第74-75页 |
| ·阅读器与温度标签之间的通信方式 | 第75-80页 |
| ·本章小结 | 第80-82页 |
| 第五章 结束语 | 第82-84页 |
| ·总结 | 第82-83页 |
| ·技术展望 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
