| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-13页 |
| 第二章 太阳软x 射线探测介绍 | 第13-31页 |
| ·太阳基本特征 | 第13-14页 |
| ·太阳耀斑 | 第14-16页 |
| ·太阳耀斑产生 | 第14-15页 |
| ·太阳耀斑X 射线辐射 | 第15-16页 |
| ·太阳软X 射线探测 | 第16-18页 |
| ·国外太阳软X 射线探测成果 | 第16-17页 |
| ·国内太阳软X 射线探测情况 | 第17-18页 |
| ·X 射线探测介绍 | 第18-25页 |
| ·X 射线与物质的相互作用 | 第18-20页 |
| ·光电效应 | 第18-19页 |
| ·康普顿效应 | 第19-20页 |
| ·电子对产生 | 第20页 |
| ·X 射线探测基本原理 | 第20-21页 |
| ·常见的半导体探测器介绍 | 第21-25页 |
| ·Si-PIN 探测器 | 第21-22页 |
| ·电荷耦合器件(CCD) | 第22-24页 |
| ·硅漂移室探测器(SDD) | 第24-25页 |
| ·典型X 射线能谱测量系统的组成 | 第25-30页 |
| ·前放电路 | 第26-27页 |
| ·滤波成形电路 | 第27-28页 |
| ·放大电路 | 第28页 |
| ·峰保电路 | 第28-29页 |
| ·单道脉冲幅度分析 | 第29页 |
| ·采集控制 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第三章 高分辨太阳软X 射线谱仪整体介绍 | 第31-37页 |
| ·高分辨太阳软X 射线谱仪技术指标 | 第31-32页 |
| ·高分辨太阳软X 射线谱仪方案概述 | 第32-33页 |
| ·高分辨太阳软X 射线谱仪系统组成 | 第33页 |
| ·高分辨太阳软X 射线谱仪机械接口 | 第33-35页 |
| ·高分辨太阳软X 射线热接口 | 第35-37页 |
| 第四章 SOX 谱仪数据采集单元 | 第37-63页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元需求 | 第37-38页 |
| ·SOX 谱仪前端探测器前端读出电子学 | 第38-39页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元设计 | 第39-61页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元硬件设计 | 第39-53页 |
| ·事例判选电路介绍 | 第39-41页 |
| ·峰值保持电路 | 第41-43页 |
| ·峰保信号采集电路 | 第43-45页 |
| ·模拟量监测电路 | 第45-49页 |
| ·控制芯片FPGA | 第49-51页 |
| ·LVDS 总线接口 | 第51-52页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元PCB 板设计 | 第52-53页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元软件功能实现 | 第53-61页 |
| ·SOX 谱仪数据采集单元软件功能整体结构 | 第53页 |
| ·时钟模块 | 第53-54页 |
| ·主控模块 | 第54页 |
| ·探测器数据采集模块 | 第54-56页 |
| ·模拟量监测子模块 | 第56-57页 |
| ·LVDS 总线通讯模块 | 第57-59页 |
| ·数采单元输出数据包格式 | 第59-60页 |
| ·CRC 校验码 | 第60-61页 |
| ·小结 | 第61-63页 |
| 第五章 SOX 谱仪数据管理单元 | 第63-85页 |
| ·载荷数据管理单元介绍 | 第63-70页 |
| ·1553B 总线介绍 | 第64-67页 |
| ·LVDS 总线介绍 | 第67-70页 |
| ·SOX 谱仪数据管理单元设计 | 第70-84页 |
| ·SOX 谱仪数据管理单元硬件设计 | 第70-76页 |
| ·控制芯片FPGA | 第70-72页 |
| ·1553B 协议芯片BU-61580 | 第72-75页 |
| ·LVDS 接口设计 | 第75页 |
| ·SOX 谱仪数据管理单元硬件 | 第75-76页 |
| ·SOX 数据管理单元软件设计 | 第76-84页 |
| ·时钟管理模块 | 第76页 |
| ·1553B 通讯模块 | 第76-82页 |
| ·LVDS 通讯模块 | 第82-84页 |
| ·小结 | 第84-85页 |
| 第六章 SOX 谱仪地检系统设计和SOX 谱仪测试 | 第85-107页 |
| ·SOX 谱仪地检系统设计 | 第85-91页 |
| ·LVDS 总线数据接收 | 第85-87页 |
| ·1553B 总线 BC 控制 | 第87-88页 |
| ·计算机上SOX 测试软件 | 第88-91页 |
| ·SOX 谱仪测试 | 第91-105页 |
| ·SOX 谱仪功耗 | 第91页 |
| ·SOX 谱仪输出信号 | 第91-92页 |
| ·数据采集单元非线性测量 | 第92-93页 |
| ·峰保电路峰顶下降率测试 | 第93-94页 |
| ·数据采集单元电子学噪声测试 | 第94-95页 |
| ·数据采集单元计数率响应曲线 | 第95-96页 |
| ·谱仪能谱标定实验 | 第96-101页 |
| ·SOX 谱仪测量能谱 | 第101页 |
| ·探测器能量分辨率与能量关系 | 第101-102页 |
| ·探测器能量分辨率与温度关系 | 第102页 |
| ·样品荧光分析 | 第102-103页 |
| ·LVDS 总线通讯误码率测试 | 第103-104页 |
| ·1553B 通讯总线测试 | 第104-105页 |
| ·小结 | 第105-107页 |
| 第七章 SOX 谱仪电子学可靠性考虑 | 第107-113页 |
| ·空间辐射对电子学影响 | 第107-108页 |
| ·电离总剂量效应 | 第107页 |
| ·位移损伤效应 | 第107页 |
| ·单粒子效应 | 第107-108页 |
| ·充电效应 | 第108页 |
| ·电子学可靠性设计通用方法 | 第108-109页 |
| ·SOX 谱仪电子学在可靠性方面的设计考虑 | 第109-112页 |
| ·器件选择 | 第109页 |
| ·FPGA 抗辐射措施 | 第109-110页 |
| ·SRAM 抗辐射措施 | 第110页 |
| ·软件容错设计 | 第110-111页 |
| ·电子学降额设计 | 第111页 |
| ·电磁兼容设计 | 第111-112页 |
| ·小结 | 第112-113页 |
| 第八章 总结与展望 | 第113-115页 |
| ·总结 | 第113-114页 |
| ·工作展望 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-119页 |
| 附录一 SOX 数据采集单元原理图 | 第119-125页 |
| 附录二 SOX 数据管理单元原理图 | 第125-129页 |
| 攻读学位期间发表文章 | 第129-130页 |
| 致谢 | 第130-131页 |