随钻姿态传感器刻度系统研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·项目背景及意义 | 第8-9页 |
| ·测斜技术发展现状 | 第9-12页 |
| ·论文的研究内容和开展步骤 | 第12页 |
| ·本章小结 | 第12-14页 |
| 第二章 随钻测量与测斜系统 | 第14-26页 |
| ·随钻测量 | 第14-15页 |
| ·测斜短节及测斜标定装置 | 第15-20页 |
| ·测斜短节 | 第15-20页 |
| ·测斜标定装置 | 第20页 |
| ·测斜数学模型 | 第20-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 采集装置和过程实现设计 | 第26-40页 |
| ·采集装置的选择 | 第26-30页 |
| ·过程实现设计 | 第30-37页 |
| ·数据采集卡API函数介绍及调用 | 第30-32页 |
| ·软件设计流程 | 第32-37页 |
| ·数据的excel保存和采用的滤波器 | 第37-39页 |
| ·数据的excel保存 | 第37-38页 |
| ·低通滤波器设计 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 测斜传感器的标定原理 | 第40-56页 |
| ·K系数标定方法与数学模型 | 第40-42页 |
| ·K系数标定方法 | 第40页 |
| ·K系数数学模型 | 第40-42页 |
| ·生成K系数 | 第42-48页 |
| ·K系数生成原理 | 第42-43页 |
| ·最小二乘法与多元线性回归 | 第43-46页 |
| ·求解K系数 | 第46-48页 |
| ·结果比较 | 第48-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 多种标定方法比较分析 | 第56-77页 |
| ·Q校正 | 第56-62页 |
| ·轴不正交校正 | 第56-57页 |
| ·不同轴校正 | 第57-59页 |
| ·确定Q值 | 第59-62页 |
| ·K+Q校正 | 第62-68页 |
| ·K+Q校正原理 | 第62-64页 |
| ·三种校正方法比较 | 第64-68页 |
| ·另外三种校正方法 | 第68-74页 |
| ·K寻优校正 | 第68-70页 |
| ·Q+K寻优校正 | 第70-72页 |
| ·K+Q寻优校正 | 第72-74页 |
| ·六种校正方法比较 | 第74-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 结论与展望 | 第77-79页 |
| ·结论 | 第77-78页 |
| ·展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 附录一：探管503测斜数据 | 第82-89页 |
| 附录二：探管503测试数据 | 第89-91页 |
| 附录三：两种K系数误差对比表 | 第91-93页 |
| 附录四：DT901测试数据 | 第93-95页 |
| 附录五：三种校正方法校正后的角度值 | 第95-97页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第97-98页 |
| 硕士学位论文详细摘要 | 第98-110页 |
