声子晶体组合平板透镜成像初探
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-6页 |
目录 | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
·负折射的基本概念 | 第8-10页 |
·人工晶体及其负折射 | 第10-12页 |
·光子晶体中的负折射 | 第10-11页 |
·声子晶体中的负折射 | 第11-12页 |
·声子晶体负折射的发展史 | 第12-13页 |
·本课题主要研究内容 | 第13-14页 |
第二章 声子晶体负折射理论研究方法 | 第14-25页 |
·引言 | 第14页 |
·弹性波波动理论 | 第14-17页 |
·声子晶体理论计算研究方法 | 第17-18页 |
·多重散射理论的研究方法 | 第18-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 二维声子晶体平板透镜成像 | 第25-37页 |
·引言 | 第25页 |
·基本模型 | 第25-27页 |
·声子晶体平板单板成像 | 第27-29页 |
·声子晶体双板成像 | 第29-33页 |
·声子晶体三板成像 | 第33-35页 |
·结论 | 第35-37页 |
第四章 厚度对平板成像的影响 | 第37-46页 |
·引言 | 第37页 |
·等效负折射率与平板厚度的关系 | 第37-39页 |
·不同厚度声子晶体平板的等效负折射率 | 第37-38页 |
·厚度对等效负折射率的影响 | 第38-39页 |
·厚度对成像范围的影响 | 第39-44页 |
·不同物距通过7,8层声子晶体平板的成像 | 第39-41页 |
·不同物距通过5,6层声子晶体平板的成像 | 第41-42页 |
·不同物距通过4,5层声子晶体平板的成像 | 第42-44页 |
·结论 | 第44-46页 |
第五章 物质材料的吸声特性实验研究 | 第46-53页 |
·引言 | 第46页 |
·测试系统的组件 | 第46-47页 |
·实验测试系统的调试 | 第47-48页 |
·实验装置的连接 | 第47页 |
·系统的调试 | 第47-48页 |
·实验的测量及结果 | 第48-52页 |
·结论 | 第52-53页 |
第六章 结论与展望 | 第53-54页 |
·结论 | 第53页 |
·展望 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
攻读学位期间的主要研究成果 | 第61页 |