| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-22页 |
| ·自旋电子学研究进展 | 第8-11页 |
| ·半导体介观环 | 第11-13页 |
| ·介观系统中的基本概念 | 第13-20页 |
| ·几个特征长度 | 第13-14页 |
| ·介观系统的基本物理现象及其规律 | 第14-18页 |
| ·磁电阻 | 第18-20页 |
| ·主要研究工作 | 第20-22页 |
| 2 基本理论和方法 | 第22-29页 |
| ·量子波导理论 | 第22-23页 |
| ·Landauer–Büttiker 公式的简化推导 | 第23-26页 |
| ·两端单通道器件电导系数的Landauer–Büttiker 公式 | 第24-25页 |
| ·两端多通道器件电导系数的Landauer–Büttiker 公式 | 第25-26页 |
| ·单通道器件的传递矩阵和散射矩阵理论 | 第26-29页 |
| ·单通道器件的传递矩阵理论 | 第26-27页 |
| ·单通道器件的散射矩阵理论 | 第27-29页 |
| 3 半导体AB 测试仪中自旋相关的输运性质 | 第29-43页 |
| ·模型和计算公式 | 第29-33页 |
| ·计算结果和讨论 | 第33-41页 |
| ·电导零点的计算 | 第33页 |
| ·势垒和磁通对电子输运性质的影响 | 第33-35页 |
| ·Rashba 自旋轨道耦合对电子输运性质的影响 | 第35页 |
| ·反铁磁电极对电子输运的影响 | 第35-36页 |
| ·AB 测试仪中零电导谐振 | 第36-38页 |
| ·自旋滤波——Spin filtering | 第38-39页 |
| ·AB 测试仪中的自旋极化现象 | 第39-40页 |
| ·AB 测试仪中的隧穿磁电阻(TMR) | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 4 总结和展望 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第53页 |
