| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·研究的背景 | 第11-12页 |
| ·研究的意义 | 第12页 |
| ·研究的现状 | 第12-13页 |
| ·创新点概要及结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 数字电路测试与SoC测试 | 第15-23页 |
| ·测试基础 | 第15-18页 |
| ·测试向量生成 | 第15-16页 |
| ·测试数据压缩 | 第16-17页 |
| ·测试响应分析 | 第17-18页 |
| ·SoC测试 | 第18-19页 |
| ·可测性设计 | 第19-21页 |
| ·小结 | 第21-23页 |
| 第三章 测试数据压缩方案综述 | 第23-34页 |
| ·内建自测试BIST(Built-In-Self-Test) | 第24-28页 |
| ·线性反馈移位寄存器 | 第26-28页 |
| ·外建自测试BOST(Built-off-Self-Test) | 第28-33页 |
| ·广播式压缩 | 第29-30页 |
| ·逻辑变换压缩 | 第30-33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于数据块编码的差分标记码 | 第34-45页 |
| ·基于数据块编码回顾 | 第34-36页 |
| ·相容与反相相容的判定准则 | 第36-37页 |
| ·差分标记码描述 | 第37-40页 |
| ·解压结构与综合过程 | 第40-41页 |
| ·实验结果 | 第41-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第五章 基于数据流编码的广义交替码 | 第45-53页 |
| ·基于数据流编码回顾 | 第45-48页 |
| ·广义交替码 | 第48-49页 |
| ·测试集分组压缩 | 第49页 |
| ·综合算法描述 | 第49-50页 |
| ·解压结构 | 第50-51页 |
| ·实验结果 | 第51-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第六章 结束语 | 第53-55页 |
| ·全文总结 | 第53页 |
| ·进一步工作 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 研究生期间撰写的论文 | 第60页 |