| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-14页 |
| §1.1 课题研究背景 | 第12页 |
| §1.2 课题研究的主要内容 | 第12-13页 |
| §1.3 论文的结构 | 第13页 |
| §1.4 本论文的研究成果 | 第13-14页 |
| 第二章 X微处理器的结构以及存储逻辑的分析 | 第14-22页 |
| §2.1 X微处理器的体系结构分析 | 第14-16页 |
| §2.2 X微处理器中存储逻辑的种类以及特性分析 | 第16-22页 |
| §2.2.1 RAM逻辑单元 | 第17-19页 |
| §2.2.2 ROM逻辑单元 | 第19-20页 |
| §2.2.3 CAM逻辑单元 | 第20-22页 |
| 第三章 存储电路的逻辑映射方法研究 | 第22-55页 |
| §3.1 存储电路映射的目标平台 | 第22-27页 |
| §3.1.1 FPGA的特点分析 | 第22-23页 |
| §3.1.2 FPGA中的基本结构分析 | 第23-27页 |
| §3.1.3 FPGA中可以综合实现为存储电路的物理资源 | 第27页 |
| §3.2 Ipcore的研究 | 第27-30页 |
| §3.3 存储单元映射资源的选择 | 第30-32页 |
| §3.4 X微处理器中存储电路的映射方法 | 第32-53页 |
| §3.4.1 RAM电路的逻辑映射 | 第33-50页 |
| §3.4.1.1 IPcore映射方法 | 第33-46页 |
| §3.4.1.2 HDL模型的映射 | 第46-50页 |
| §3.4.2 ROM电路的逻辑映射 | 第50-51页 |
| §3.4.3 CAM电路的逻辑映射 | 第51-53页 |
| §3.5 面向FPGA的Verilog描述的可综合性分析 | 第53-54页 |
| §3.6 本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 存储逻辑映射模型的功能验证方法 | 第55-70页 |
| §4.1 X微处理器的验证方案 | 第55-62页 |
| §4.1.1 验证模型的建立 | 第55-58页 |
| §4.1.2 系统验证平台 | 第58-62页 |
| §4.2 存储电路映射后等价性验证方法 | 第62-67页 |
| §4.2.1 模拟验证方法 | 第62-63页 |
| §4.2.2 等价性验证方法 | 第63-67页 |
| §4.3 映射模型验证效率提升的方法 | 第67-69页 |
| §4.3.1 建立验证模型的效率提升 | 第67页 |
| §4.3.2 模拟验证速度的提升 | 第67-68页 |
| §4.3.3 综合工具的选择 | 第68-69页 |
| §4.4 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 总结 | 第70-71页 |
| §5.1 全文工作总结 | 第70页 |
| §5.2 未来工作展望 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录:攻读硕士期间发表的论文 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |