第一章 绪论 | 第1-20页 |
·引言 | 第10-11页 |
·曲面造型及其磨光方法研究综述 | 第11-18页 |
·曲面造型技术的研究历史 | 第11-12页 |
·曲面造型技术的研究现状 | 第12-15页 |
·曲面造型技术的发展趋势 | 第15-16页 |
·磨光方法研究综述 | 第16-18页 |
·KS函数研究综述 | 第18-19页 |
·本文研究的目的和意义 | 第19页 |
·本文的主要研究内容 | 第19-20页 |
第二章 直角坐标系下的KS函数 | 第20-26页 |
·KS函数及其凝聚特性 | 第20-21页 |
·最小包络的KS函数 | 第21页 |
·最大包络的KS函数及最小包络的KS函数与磨光 | 第21-25页 |
·KS函数和KS函数的两个重要特点 | 第21-22页 |
·KS函数和KS函数在一类磨光问题中的应用 | 第22-25页 |
本章小结 | 第25-26页 |
第三章 KS_r磨光函数及内点极径扫描法 | 第26-51页 |
·KS函数和KS函数在一般磨光问题中所遇到的问题 | 第26-28页 |
·封闭区间域内扫描包络的实现 | 第28-31页 |
·基于映射反演的凸体高阶磨光数值新方法 | 第31-34页 |
·磨光函数KS_r的特性 | 第34-44页 |
·参数曲面 | 第34-38页 |
·磨光函数KS_r的连续性 | 第38页 |
·磨光函数KS_r的高阶可微性 | 第38-39页 |
·经KS_r函数磨光后曲面的光滑性 | 第39-43页 |
·KS_r函数的梯度信息及λ_i函数的权性 | 第43-44页 |
·参数ρ对KS_r函数及磨光过程的影响 | 第44页 |
·极点位置对磨光的影响初探 | 第44-50页 |
·极点位置的确定 | 第45-47页 |
·极点坐标对磨光函数的敏度分析 | 第47-50页 |
·应用KS_r磨光函数及内点极径扫描法磨光的优缺点 | 第50页 |
本章小结 | 第50-51页 |
第四章 多个函数定义的空间凸体高阶磨光 | 第51-60页 |
·凸多面体的高阶磨光 | 第52-54页 |
·多个二次函数定义的曲面围成的凸体高阶磨光 | 第54-58页 |
·二维问题 | 第54-56页 |
·三维问题 | 第56-58页 |
·高次函数或超越函数定义的凸体高阶磨光问题探讨 | 第58-59页 |
本章小结 | 第59-60页 |
第五章 非凸体分步逐次高阶磨光 | 第60-72页 |
·非凸体一次高阶磨光难点 | 第60-61页 |
·极坐标系下的最大包络(?)_r函数 | 第61-63页 |
·分步逐次高阶磨光方法 | 第63-65页 |
·非凸体磨光实例 | 第65-71页 |
本章小结 | 第71-72页 |
第六章 凸多面体可控高阶磨光 | 第72-81页 |
·λ_i函数权性的应用 | 第72-73页 |
·可控磨光的实现 | 第73-76页 |
·凸多面体可控高阶磨光算例 | 第76-80页 |
·二维问题算例 | 第76-78页 |
·三维问题算例 | 第78-80页 |
本章小结 | 第80-81页 |
第七章 多个函数定义的复连通域的高阶磨光 | 第81-87页 |
·多个二元函数定义的复连通域的高阶磨光 | 第81-84页 |
·多个三元函数定义的复连通域的高阶磨光 | 第84-86页 |
·复连通域高阶磨光方法的特点 | 第86页 |
本章小结 | 第86-87页 |
第八章 基于离散点描写的凸体、非凸体的磨光 | 第87-105页 |
·基于离散点描写的凸体、非凸体磨光的意义及用途 | 第87-88页 |
·基于离散点描写的凸体、非凸体磨光方法 | 第88-104页 |
·离散点描写的平面凸曲线的拟合磨光 | 第88-92页 |
·离散点描写的空间封闭凸体的拟合磨光 | 第92-101页 |
·离散点描写的非凸体的拟合磨光 | 第101-103页 |
·离散点描写的凸与非凸体磨光法的特点 | 第103-104页 |
本章小结 | 第104-105页 |
第九章 进一步的思考 | 第105-108页 |
本章小结 | 第106-108页 |
总结与展望 | 第108-110页 |
总结 | 第108-109页 |
未来研究展望 | 第109-110页 |
参考文献 | 第110-116页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第116页 |
攻读博士学位期间取得的科研成果 | 第116-117页 |
致谢 | 第117页 |