| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-26页 |
| ·电磁参数测量方法评述 | 第12-17页 |
| ·介质测量技术的用途和意义 | 第12-13页 |
| ·介质材料电磁特性的表征 | 第13-14页 |
| ·介质电磁特性参数测量技术及其发展趋势 | 第14-17页 |
| ·开口反射探头测量技术研究进展 | 第17-22页 |
| ·同轴探头测量技术发展回顾 | 第18-20页 |
| ·开口同轴探头(传感器)结构与建模 | 第20-22页 |
| ·典型传感器结构 | 第20页 |
| ·开口同轴探头的建模理论 | 第20-22页 |
| ·材料复电磁参数的同时测量 | 第22-24页 |
| ·本文的研究内容与主要贡献 | 第24-26页 |
| 第二章 开口同轴探头建模计算与设计 | 第26-61页 |
| ·建模与反演方法概述 | 第26-30页 |
| ·电磁建模方法 | 第26-28页 |
| ·反演方法——非线性方程组优化迭代算法 | 第28-30页 |
| ·开口同轴探头的导抗谱域法模型 | 第30-43页 |
| ·谱域等效传输线 | 第30-33页 |
| ·同轴探头与加载多层介质中的场 | 第33-40页 |
| ·模式分析 | 第33-35页 |
| ·同轴线中的(主模归一化)横向场 | 第35-36页 |
| ·多层介质中的横向场 | 第36-38页 |
| ·口径场匹配 | 第38-40页 |
| ·小结 | 第40-43页 |
| ·开口同轴探头中高次模的计算与分析 | 第43-52页 |
| ·有关A_(ij)的积分计算 | 第43-45页 |
| ·开口同轴探头中高次模的影响 | 第45-50页 |
| ·小结 | 第50-52页 |
| ·开口同轴探头设计 | 第52-60页 |
| ·同轴传输线设计 | 第53页 |
| ·法兰设计——开口同轴探头近场分析 | 第53-60页 |
| ·开口同轴探头辐射近场分析 | 第54-59页 |
| ·开口同轴探头法兰尺寸设计讨论 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第三章 开口同轴探头同时测量复电磁参数“变厚度法”研究 | 第61-85页 |
| ·“变厚度法”概述 | 第61-62页 |
| ·“变厚度法”理论研究 | 第62-75页 |
| ·同轴探头测量误差源分析 | 第62-64页 |
| ·计算误差分析及抑制 | 第63页 |
| ·建模误差及其抑制 | 第63-64页 |
| ·测量误差及其抑制 | 第64页 |
| ·小结 | 第64页 |
| ·“变厚度法”测量复电磁参数不确定度分析公式推导 | 第64-70页 |
| ·“变厚度法”不确定度分析 | 第70-74页 |
| ·待测样品厚度优化选择方法 | 第74-75页 |
| ·“变厚度法”测量双复电磁参数的实验研究 | 第75-78页 |
| ·“变厚度法”技术的新进展 | 第78-81页 |
| ·“多值解”问题与不确定度关系的讨论 | 第81-84页 |
| ·小结 | 第84-85页 |
| 第四章 开口同轴探头同时测量复电磁参数“加标准样品法”研究 | 第85-106页 |
| ·“加标准样品法”概述 | 第85-86页 |
| ·“加标准样品法”测量复电磁参数不确定度分析 | 第86-101页 |
| ·误差源分析 | 第86-88页 |
| ·“加标准样品法”不确定度分析公式推导 | 第88-92页 |
| ·“加标准样品法”标准样品选择与不确定度分析 | 第92-101页 |
| ·“加标准样品法”实验(模拟)验证 | 第101-104页 |
| ·小结 | 第104-106页 |
| 第五章 开口同轴探头同时测量复电磁参数“变探头法”研究 | 第106-116页 |
| ·“变探头法”概述 | 第106-107页 |
| ·“变探头法”测量复电磁参数不确定度分析 | 第107-112页 |
| ·误差源分析 | 第107页 |
| ·“变探头法”不确定度分析公式推导 | 第107-112页 |
| ·“变探头法”实验(模拟)验证 | 第112-115页 |
| ·小结 | 第115-116页 |
| 结束语 | 第116-117页 |
| 作者在攻读博士学位期间发表文章 | 第117-118页 |
| 致谢 | 第118-119页 |
| 附录Ⅰ | 第119-121页 |
| 附录Ⅱ | 第121-122页 |
| 参考文献 | 第122-131页 |
