| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 序言 | 第10-15页 |
| 1 引言 | 第15-31页 |
| 1.1 有机薄膜晶体管的发展及现状 | 第15-17页 |
| 1.2 有机集成电路的发展与现状 | 第17-22页 |
| 1.3 利用OTFT实现有机集成电路的设计的方法 | 第22-28页 |
| 1.3.1 集成电路的电子自动化设计(EDA)方法 | 第23-25页 |
| 1.3.2 有机集成电路的EDA设计流程 | 第25-27页 |
| 1.3.3 EDA电路仿真工具及器件模型的应用 | 第27页 |
| 1.3.4 OTFT器件模型发展及概况 | 第27-28页 |
| 1.4 有机集成电路设计中的关键问题及本论文的工作 | 第28-31页 |
| 2 有机薄膜晶体管的工作原理及其模型 | 第31-43页 |
| 2.1 有机薄膜晶体管的主要制备材料 | 第31-32页 |
| 2.1.1 有源层制备材料 | 第31-32页 |
| 2.1.2 绝缘层制备材料 | 第32页 |
| 2.1.3 漏源电极制备材料 | 第32页 |
| 2.2 有机薄膜晶体管的的基本结构与工作原理 | 第32-39页 |
| 2.2.1 OTFT的基本结构 | 第32-36页 |
| 2.2.2 OTFT的的基本工作原理 | 第36-37页 |
| 2.2.3 常用的OTFT器件电流电压关系 | 第37-38页 |
| 2.2.4 OTFT的主要参数常用提取方法 | 第38-39页 |
| 2.3 有机OTFT的器件特性 | 第39-42页 |
| 2.3.1 有机半导体的传输模型 | 第39-40页 |
| 2.3.2 OTFT器件中的寄生效应 | 第40-41页 |
| 2.3.3 OTFT的寄生器件 | 第41-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 3 有机薄膜晶体管SPICE模型及其参数提取方法研究 | 第43-61页 |
| 3.1 有机薄膜晶体管的模型建立方法 | 第44-46页 |
| 3.1.1 模型建立方法及其参数提取方法 | 第44-45页 |
| 3.1.2 有机薄膜晶体管的等效电路模型 | 第45-46页 |
| 3.2 有机薄膜晶体管的直流电流电压模型 | 第46-52页 |
| 3.2.1 有机薄膜晶体管直流SPICE模型的建立 | 第46-50页 |
| 3.2.2 模型中参数的提取方法 | 第50-52页 |
| 3.3 模型及参数提取方法的实验验证 | 第52-58页 |
| 3.3.1 OTFT的实验制备及测试 | 第52-54页 |
| 3.3.2 OTFT的参数提取 | 第54-56页 |
| 3.3.3 OTFT的模拟仿真 | 第56-58页 |
| 3.4 OTFT的动态参数模型 | 第58-59页 |
| 3.4.1 有机薄膜晶体管的寄生电容 | 第58页 |
| 3.4.2 有机薄膜晶体管的交流电阻 | 第58-59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 4 物理参数对OTFT器件的性能影响研究 | 第61-81页 |
| 4.1 OTFT器件的制备 | 第61-64页 |
| 4.1.1 器件材料的选择 | 第61-62页 |
| 4.1.2 器件的制备工艺 | 第62-64页 |
| 4.2 绝缘层厚度对OTFT器件的性能影响研究 | 第64-69页 |
| 4.2.1 基于SiO_2绝缘层的OTFT器件的制备与测试 | 第64-67页 |
| 4.2.2 不同绝缘层厚度OTFT的参数提取及性能分析 | 第67-69页 |
| 4.3 沟道几何尺寸对OTFT器件的性能影响研究 | 第69-73页 |
| 4.3.1 基于SiO_2绝缘层的OTFT器件的制备与测试 | 第69-71页 |
| 4.3.2 不同沟道几何尺寸OTFT器件的参数提取与性能分析 | 第71-73页 |
| 4.4 绝缘层材料对OTFT器件的性能影响研究 | 第73-79页 |
| 4.4.1 基于SiN_x绝缘层的OTFT的制备与测试 | 第73-74页 |
| 4.4.2 基于PMMA绝缘层的OTFT的制备与测试 | 第74-76页 |
| 4.4.3 基于PVP绝缘层OTFT的制备与测试 | 第76-77页 |
| 4.4.4 基于不同绝缘层的OTFT器件性能比较与分析 | 第77-79页 |
| 4.5 本章小结 | 第79-81页 |
| 5 基于OTFT模型的逐次逼近型ADC电路设计 | 第81-109页 |
| 5.1 模数转换器基础 | 第81-85页 |
| 5.1.1 模数转换器基本原理 | 第81-83页 |
| 5.1.2 模数转换器基本参数 | 第83-85页 |
| 5.2 基于P-OTFT的逐次逼近型ADC电路设计与仿真 | 第85-105页 |
| 5.2.1 基于P-OTFT的逻辑门电路设计与分析 | 第87-92页 |
| 5.2.2 基于P-OTFT的逐次逼近ADC的逐次逼近逻辑设计 | 第92-93页 |
| 5.2.3 基于OTFT的采样保持和DAC电路 | 第93-96页 |
| 5.2.4 基于OTFT的比较器电路 | 第96-99页 |
| 5.2.5 基于P-OTFT的时序控制电路设计 | 第99-100页 |
| 5.2.6 基于P-OTFT的逐次逼近ADC的电路整体仿真 | 第100-105页 |
| 5.3 基于P-OTFT的逐次逼近型ADC版图设计 | 第105-107页 |
| 5.4 本章小结 | 第107-109页 |
| 6 结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-121页 |
| 作者简历及攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第121-125页 |
| 学位论文数据集 | 第125页 |
