现场XRF技术在RoHS认证中应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第1章 前言 | 第9-16页 |
| ·选题依据与研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外现状 | 第10-14页 |
| ·研究内容 | 第14页 |
| ·研究成果与特色 | 第14-16页 |
| 第2章 X荧光分析的理论基础 | 第16-18页 |
| ·X射线荧光分析的物理基础 | 第16-17页 |
| ·元素定性分析原理 | 第16页 |
| ·元素定量分析原理 | 第16-17页 |
| ·X射线荧光分析的特点 | 第17-18页 |
| 第3章 仪器改进及方法技术 | 第18-32页 |
| ·RoHS应对方案与要求 | 第18-20页 |
| ·仪器改进 | 第20-25页 |
| ·IED-2000P型XRF基本工作原理 | 第20-21页 |
| ·激发源的类型与选择 | 第21-24页 |
| ·仪器测量条件选择 | 第24-25页 |
| ·定量分析方法 | 第25-27页 |
| ·相对测量方法 | 第25-26页 |
| ·标准曲线 | 第26-27页 |
| ·标准样品及其制备 | 第27-32页 |
| ·标准样品要求 | 第27-29页 |
| ·标样制备 | 第29-32页 |
| 第4章 定量分析模型 | 第32-64页 |
| ·仪器读数稳定性检查 | 第32-33页 |
| ·样品的均匀性检验分析 | 第33-34页 |
| ·标样的测量结果 | 第34-39页 |
| ·X光管激发数据处理结果及分析 | 第39-49页 |
| ·不同基体中Cr元素的标准曲线 | 第39-42页 |
| ·不同基体中Pb元素的标准曲线 | 第42-45页 |
| ·不同基体中Hg元素的标准曲线 | 第45-47页 |
| ·不同基体中Br元素的标准曲线 | 第47-49页 |
| ·同位素源做激发源时数据处理结果及分析 | 第49-63页 |
| ·不同基体中Cr元素的标准曲线 | 第49-52页 |
| ·不同基体中Pb元素的标准曲线 | 第52-56页 |
| ·不同基体中Hg元素的标准曲线 | 第56-59页 |
| ·不同基体中Br元素的标准曲线 | 第59-62页 |
| ·不同基体中Cd元素的标准曲线 | 第62-63页 |
| ·对比结论 | 第63-64页 |
| 第5章 样品测量及质量评价 | 第64-72页 |
| ·样品测量及数据处理 | 第64-67页 |
| ·准确度 | 第67-69页 |
| ·精确度 | 第69页 |
| ·灵敏度 | 第69-70页 |
| ·误差讨论 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-76页 |
