基于动态液滴放电实验的合成绝缘子憎水性检测研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-27页 |
| ·合成绝缘子的发展概述 | 第8-9页 |
| ·合成绝缘子在我国的发展状况 | 第9-10页 |
| ·合成绝缘子的主要结构和材料特征 | 第10-12页 |
| ·合成绝缘子的结构 | 第10-11页 |
| ·合成绝缘子的硅橡胶特性 | 第11-12页 |
| ·合成绝缘子运行中的问题 | 第12-20页 |
| ·合成绝缘子的老化 | 第13-14页 |
| ·硅橡胶合成绝缘子的老化机理 | 第14-16页 |
| ·硅橡胶合成绝缘子的污闪机理 | 第16-18页 |
| ·硅橡胶合成绝缘子污闪的危害 | 第18-20页 |
| ·硅橡胶合成绝缘子表面憎水性的检测方法 | 第20-25页 |
| ·接触角法 | 第21-22页 |
| ·表面张力法 | 第22页 |
| ·喷水分级法 | 第22-23页 |
| ·泄漏电流法 | 第23-25页 |
| ·方法小结 | 第25页 |
| ·本论文的主要工作 | 第25-27页 |
| 第二章 实验装置与实验方法 | 第27-30页 |
| ·实验样品介绍 | 第27-28页 |
| ·实验装置及实验方法 | 第28页 |
| ·实验过程及相关参数 | 第28-30页 |
| 第三章 实验现象分析与光信号处理 | 第30-38页 |
| ·滴水过程中的实验现象 | 第30页 |
| ·实验过程中的放电现象 | 第30-32页 |
| ·实验过程中的光信号提取及处理 | 第32-35页 |
| ·光电倍增管的工作原理[54,55] | 第32-33页 |
| ·典型光信号波形及处理方法 | 第33-35页 |
| ·样品表面电场分布仿真 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 泄漏电流信号处理 | 第38-55页 |
| ·实验过程中采取的特征泄漏电流波形 | 第38-39页 |
| ·累积放电量分段算法理论及数据处理结果 | 第39-41页 |
| ·累积放电量分段算法理论 | 第39页 |
| ·累积放电量分段算法分析泄漏电流波形 | 第39-41页 |
| ·小波变换理论及数据处理结果 | 第41-54页 |
| ·傅立叶变换到小波变换 | 第41-43页 |
| ·小波函数 | 第43-44页 |
| ·小波变换 | 第44-46页 |
| ·多尺度思想和多分辨率分析 | 第46-47页 |
| ·泄漏电流波形的傅立叶变换 | 第47-49页 |
| ·泄漏电流波形的小波分频结果 | 第49-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 结论与展望 | 第55-56页 |
| ·本文结论 | 第55页 |
| ·研究展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
