| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第7-8页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第7-8页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究综述 | 第8-9页 |
| 1.3 本文所提方法及论文结构 | 第9-11页 |
| 第2章 理论研究 | 第11-18页 |
| 2.1 统计过程研究 | 第11-13页 |
| 2.1.1 统计过程研究概念及基本思想 | 第11-12页 |
| 2.1.2 SPC重要工具控制图基本原理 | 第12-13页 |
| 2.2 轮廓监控 | 第13-15页 |
| 2.3 异常点概述及异常点识别方法 | 第15-18页 |
| 2.3.1 异常点概念及成因 | 第15页 |
| 2.3.2 异常点识别方法研究 | 第15-18页 |
| 第3章 方法研究 | 第18-28页 |
| 3.1 WDC方法流程 | 第18-19页 |
| 3.2 小波分析基本理论和小波降噪原理 | 第19-21页 |
| 3.2.1 小波分析基本理论 | 第19-20页 |
| 3.2.2 小波降噪原理 | 第20-21页 |
| 3.3 数据深度 | 第21-23页 |
| 3.3.1 马氏深度(Mahalanobis Depth) | 第21-22页 |
| 3.3.2 基于空间秩的数据深度 | 第22页 |
| 3.3.3 L~P数据深度 | 第22-23页 |
| 3.4 聚类分析与K-MEANS分析 | 第23-26页 |
| 3.4.1 聚类分析概念及主要方法 | 第23-25页 |
| 3.4.2 K-means聚类方法 | 第25-26页 |
| 3.5 Χ~2控制图方法 | 第26-28页 |
| 第4章 性能分析 | 第28-48页 |
| 4.1 仿真过程 | 第28-29页 |
| 4.2 效果评价指标 | 第29页 |
| 4.3 非正态变异下性能分析 | 第29-36页 |
| 4.3.1 对数正态分布下变异均值改变 | 第30-33页 |
| 4.3.2 对数正态分布下误差因子方差改变 | 第33-36页 |
| 4.4 标准正态变异下性能分析 | 第36-44页 |
| 4.4.1 标准正态分布下变异均值改变 | 第37-40页 |
| 4.4.2 标准正态分布下变异方差改变 | 第40-44页 |
| 4.5 WDC自身方法对比 | 第44-46页 |
| 4.6 实例分析 | 第46-48页 |
| 第5章 结论与展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 发表论文与参加科研情况 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |