| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 1 前言 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第8页 |
| 1.2 国内外材料传热性能检测系统研究现状 | 第8-10页 |
| 1.2.1 国外材料传热性能检测系统研究现状 | 第8-9页 |
| 1.2.2 国内材料传热性能检测系统研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 导热系数研究方法 | 第10-11页 |
| 1.4 本文章节安排 | 第11-13页 |
| 2 系统设计原理及试验箱设计 | 第13-20页 |
| 2.1 材料传热性能检测系统设计依据 | 第13页 |
| 2.2 导热系数计算原理 | 第13-15页 |
| 2.2.1 傅里叶定律 | 第13-14页 |
| 2.2.2 单平壁一维稳态导热 | 第14-15页 |
| 2.3 新型双平板结构模型原理 | 第15-16页 |
| 2.3.1 双平板稳态导热系数计算模型 | 第15-16页 |
| 2.3.2 导热系数影响因素 | 第16页 |
| 2.4 试验箱总体设计 | 第16-20页 |
| 2.4.1 系统主要技术指标 | 第17页 |
| 2.4.2 试验箱设计 | 第17-18页 |
| 2.4.3 防护热板法装置 | 第18-20页 |
| 3 系统硬件设计部分 | 第20-30页 |
| 3.1 系统整体硬件设计 | 第20页 |
| 3.2 ATmega64微控制器 | 第20-21页 |
| 3.2.1 ATmega64简介 | 第20-21页 |
| 3.2.2 ATmega64微控制器外围电路 | 第21页 |
| 3.3 USB数据传输单元硬件设计 | 第21-22页 |
| 3.4 温度采集单元硬件设计 | 第22-25页 |
| 3.4.1 温度传感器DS18B20简介 | 第23-24页 |
| 3.4.2 温度采集单元电路设计 | 第24-25页 |
| 3.5 加热控制单元的硬件设计 | 第25-28页 |
| 3.5.1 计量区加热控制电路 | 第25-27页 |
| 3.5.2 瞬时功率检测电路 | 第27-28页 |
| 3.5.3 防护区及冷区加热电路 | 第28页 |
| 3.6 试样加紧装置单元硬件设计 | 第28-30页 |
| 3.6.1 光隔离过零可控硅驱动器MOC3041 | 第29页 |
| 3.6.2 试样加紧装置电路 | 第29-30页 |
| 4 基于模糊PID温控模型研究 | 第30-45页 |
| 4.1 PID控制器 | 第30页 |
| 4.2 计量区模糊PID控制器设计 | 第30-40页 |
| 4.2.1 计量区模糊PID控制器结构 | 第30-31页 |
| 4.2.2 计量区控制系统模糊化处理 | 第31-35页 |
| 4.2.3 模糊控制规则制定 | 第35-37页 |
| 4.2.4 计量区模糊PID控制器算法设计 | 第37-40页 |
| 4.3 计量区输出控制算法设计 | 第40-45页 |
| 5 软件程序设计 | 第45-57页 |
| 5.1 基于LabWindows/CVI的上位机程序设计 | 第45-50页 |
| 5.1.1 虚拟仪器与LabWindows/CVI | 第45-47页 |
| 5.1.2 系统界面及功能介绍 | 第47-50页 |
| 5.2 系统主要模块设计 | 第50-53页 |
| 5.2.1 温度设定模块 | 第50页 |
| 5.2.2 系统标定模块 | 第50-52页 |
| 5.2.3 通信设定模块 | 第52-53页 |
| 5.3 下位机程序设计 | 第53-55页 |
| 5.4 实验结果分析 | 第55-57页 |
| 6 结论 | 第57-59页 |
| 6.1 全文总结 | 第57页 |
| 6.2 论文的创新点 | 第57-58页 |
| 6.3 论文的不足之处 | 第58-59页 |
| 7 展望 | 第59-60页 |
| 8 参考文献 | 第60-68页 |
| 9 致谢 | 第68页 |