摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第1章 研究背景与意义 | 第11-31页 |
1.1 研究背景 | 第11-19页 |
1.2 国内外现状和发展趋势 | 第19-25页 |
1.2.1 国外发展现状 | 第19-23页 |
1.2.2 国内发展现状 | 第23-25页 |
1.3 关键技术分析 | 第25-28页 |
1.4 研究意义和主要研究内容 | 第28-31页 |
第2章 系统设计和高速低噪声信息获取技术研究 | 第31-59页 |
2.1 高分辨率短波红外成像系统设计及分析 | 第31-36页 |
2.1.1 主要参数设计 | 第31-32页 |
2.1.2 总体构型 | 第32-34页 |
2.1.3 性能分析与关键技术 | 第34-36页 |
2.2 短波红外成像系统缩比样机 | 第36-43页 |
2.2.1 缩比样机主要参数 | 第36-37页 |
2.2.2 系统整体构型 | 第37页 |
2.2.3 光学系统与结构设计 | 第37-40页 |
2.2.4 大面阵新型短波红外探测器 | 第40-43页 |
2.3 高速低噪声信息获取技术研究 | 第43-57页 |
2.3.1 信息获取电子学系统设计 | 第43-51页 |
2.3.2 集成化电路布局和性能测试 | 第51-57页 |
2.4 本章小结 | 第57-59页 |
第3章 时间延迟数字累加技术研究 | 第59-75页 |
3.1 噪声分析与信噪比模型 | 第59-63页 |
3.1.1 系统噪声分析 | 第59-62页 |
3.1.2 信噪比模型 | 第62-63页 |
3.2 信噪比提高方法 | 第63-67页 |
3.3 TDDA技术 | 第67-73页 |
3.3.1 TDDA技术原理、发展与应用 | 第67-71页 |
3.3.2 TDDA技术与系统信噪比的关系 | 第71-72页 |
3.3.3 TDDA技术与图像非均匀性的关系 | 第72-73页 |
3.4 本章小结 | 第73-75页 |
第4章 基于图像的非均匀性校正技术研究 | 第75-111页 |
4.1 图像非均匀性产生原因及表现形式 | 第75-78页 |
4.1.1 系统自身的非均匀性 | 第75-76页 |
4.1.2 外界干扰引入的非均匀性 | 第76-77页 |
4.1.3 非均匀性在图像中的表现形式 | 第77-78页 |
4.2 非均匀性校正方法 | 第78-83页 |
4.2.1 基于定标的非均匀性校正 | 第79-81页 |
4.2.2 基于图像的非均匀性校正 | 第81-83页 |
4.3 基于场景统计的中值线性校正 | 第83-86页 |
4.4 基于空间滤波的傅里叶变换校正 | 第86-89页 |
4.5 实验验证及结果分析 | 第89-109页 |
4.5.1 数据源介绍 | 第89-93页 |
4.5.2 FAHI可见光、短波红外和热红外图像校正 | 第93-95页 |
4.5.3 对于线性度较差的像元校正 | 第95-96页 |
4.5.4 FTF算法的排序验证 | 第96-97页 |
4.5.5 星载短波红外图像校正 | 第97-98页 |
4.5.6 无定标的原始图像校正 | 第98-100页 |
4.5.7 实验结果分析 | 第100-101页 |
4.5.8 图像质量评价 | 第101-109页 |
4.6 本章小结 | 第109-111页 |
第5章 缩比样机性能测试和成像实验 | 第111-125页 |
5.1 成像系统缩比样机性能测试 | 第111-113页 |
5.1.1 信噪比测试 | 第111-112页 |
5.1.2 调制传递函数测试 | 第112-113页 |
5.2 成像实验及结果分析 | 第113-118页 |
5.2.1 雾天对比成像试验 | 第114-116页 |
5.2.2 晨昏成像实验 | 第116页 |
5.2.3 结果分析 | 第116-117页 |
5.2.4 图像的非均匀性校正 | 第117-118页 |
5.3 TDDA技术应用与验证 | 第118-123页 |
5.3.1 系统信噪比的提高 | 第118-122页 |
5.3.2 图像非均匀性的改善 | 第122-123页 |
5.4 本章小结 | 第123-125页 |
第6章 总结与展望 | 第125-129页 |
参考文献 | 第129-139页 |
致谢 | 第139-141页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第141-142页 |