摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
1.1 引言 | 第8-9页 |
1.2 国内外研究现状 | 第9-13页 |
1.2.1 胶囊法自愈合技术研究概况 | 第9-11页 |
1.2.2 自愈合胶囊的掺量计算研究现状 | 第11-13页 |
1.2.3 自愈胶囊掺量研究存在的主要问题 | 第13页 |
1.3 本文主要的研究内容及创新点 | 第13-16页 |
1.3.1 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
1.3.2 本文的主要创新点 | 第15页 |
1.3.3 本文的研究意义 | 第15-16页 |
第二章 平面裂纹格局下胶囊掺量的理论基础 | 第16-44页 |
2.1 胶囊掺量数学模型介绍 | 第16-17页 |
2.2 平面裂纹形式简化及分析——短胶囊模型 | 第17-30页 |
2.2.1 平行线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第17-18页 |
2.2.2 两组平行正交线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第18-20页 |
2.2.3 两组平行非正交线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第20-22页 |
2.2.4 三角形裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第22-25页 |
2.2.5 任意凸n边形裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第25-30页 |
2.3 平面裂纹形式简化及分析——长胶囊模型 | 第30-41页 |
2.3.1 平行线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第30-32页 |
2.3.2 两组平行正交线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第32-34页 |
2.3.3 两组平行非正交线型裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第34-40页 |
2.3.4 任意凸n边形裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第40-41页 |
2.4 复杂裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第41-42页 |
2.5 本章小结 | 第42-44页 |
第三章 三维空间裂纹格局的短胶囊掺量理论基础 | 第44-54页 |
3.1“垂直切片”的引入 | 第44-45页 |
3.2 平行面型裂纹格局的短胶囊掺量计算 | 第45-46页 |
3.3 两组平行面裂纹格局的胶囊掺量计算 | 第46-48页 |
3.4 直棱柱型裂纹格局的短胶囊掺量计算 | 第48-53页 |
3.5 本章小结 | 第53-54页 |
第四章 图像中裂纹格局的获取及数学表征 | 第54-68页 |
4.1 研究背景 | 第54页 |
4.2 图像缩放处理 | 第54-58页 |
4.3 图像的二值化处理 | 第58-61页 |
4.3.1 全局阈值法 | 第58-60页 |
4.3.2 自适应阈值法 | 第60-61页 |
4.4 图像的去噪处理 | 第61-62页 |
4.5 图像裂纹的提取与数学表征 | 第62-66页 |
4.5.1 裂纹点的提取 | 第63页 |
4.5.2 裂纹点的线性拟合 | 第63-65页 |
4.5.3 裂纹形式的数学表征 | 第65-66页 |
4.6 本章小结 | 第66-68页 |
第五章 结论与展望 | 第68-70页 |
5.1 结论 | 第68页 |
5.2 展望 | 第68-70页 |
参考文献 | 第70-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
攻读硕士期间取得的学术成果 | 第76页 |