| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| ·嵌入式存储器内建自测试与内建自修复概述 | 第13-16页 |
| ·嵌入式存储器内建自测试技术 | 第13-14页 |
| ·嵌入式存储器内建自修复技术 | 第14-16页 |
| ·国内外研究现状及存在的技术难点 | 第16-18页 |
| ·国内外研究概况 | 第16-17页 |
| ·存在的技术难点 | 第17-18页 |
| ·嵌入式存储器内建自测试与内建自修复研究意义 | 第18-21页 |
| ·SoC 的成品率优化流程 | 第18-19页 |
| ·嵌入式存储器成品率对SoC 成品率的影响 | 第19-21页 |
| ·课题研究工作与论文组织结构 | 第21-22页 |
| 第二章 嵌入式存储器内建自测试及其诊断实现研究 | 第22-33页 |
| ·嵌入式存储器BIST 技术基本知识 | 第22-25页 |
| ·嵌入式存储器测试算法 | 第22-23页 |
| ·嵌入式存储器自测试系统基本结构 | 第23页 |
| ·嵌入式存储器常见故障模型 | 第23-25页 |
| ·测试算法及其诊断实现 | 第25-30页 |
| ·March19N 测试算法 | 第25-26页 |
| ·带诊断支持功能的BIST 模块 | 第26-27页 |
| ·故障诊断与结果分析 | 第27-29页 |
| ·故障字典表的实现 | 第29-30页 |
| ·结果与讨论 | 第30-32页 |
| ·测试算法及其诊断实现技术指标 | 第30-31页 |
| ·实验结果分析 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 高可靠性BIRA 策略及BISR 系统设计实现研究 | 第33-54页 |
| ·嵌入式存储器内建自修复技术 | 第33-36页 |
| ·嵌入式存储器修复策略 | 第33-35页 |
| ·嵌入式存储器自修复系统基本结构 | 第35-36页 |
| ·改进DA 结构体系架构 | 第36-39页 |
| ·DBL 和 DWL 概念及其特点 | 第36-37页 |
| ·DA 结构及其特点 | 第37-38页 |
| ·嵌入式存储器故障分布特点 | 第38页 |
| ·嵌入式SRAM 体系架构 | 第38-39页 |
| ·内建冗余分析策略 | 第39-44页 |
| ·内建自修复流程 | 第39-40页 |
| ·内建冗余分析策略流程 | 第40-41页 |
| ·实例验证 | 第41-43页 |
| ·冗余模块修复情况 | 第43-44页 |
| ·实验结果及分析 | 第44-46页 |
| ·仿真结果验证 | 第44页 |
| ·面积开销及故障修复率计算 | 第44-45页 |
| ·内建冗余分析部分小结 | 第45-46页 |
| ·内建自修复设计实现及其仿真结果分析 | 第46-53页 |
| ·内建自修复系统各信号的含义 | 第47页 |
| ·BISR 系统运行步骤与仿真结果分析 | 第47-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 总结与展望 | 第54-56页 |
| ·研究工作总结 | 第54页 |
| ·下一步工作建议 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 在学期间发表的学术论文及参与基金项目 | 第61页 |