| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5页 |
| 引言 | 第8-9页 |
| 第1章 文献综述 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景 | 第9页 |
| 1.2 陶瓷膜的种类 | 第9-12页 |
| 1.3 钙钛矿透氢膜的透氢机理 | 第12页 |
| 1.4 钙钛矿型质子导体 | 第12-14页 |
| 1.4.1 钙钛矿型质子导体结构 | 第12-13页 |
| 1.4.2 钙钛矿型质子导体传导机理 | 第13-14页 |
| 1.5 BaZrO_3基质子导体 | 第14-19页 |
| 1.5.1 BaZrO_3基质子导体的制备方法 | 第14-15页 |
| 1.5.2 BaZrO_3基质子导体的改性 | 第15-19页 |
| 第2章 实验方案与内容 | 第19-27页 |
| 2.1 研究目标 | 第19页 |
| 2.2 研究内容 | 第19页 |
| 2.3 创新点 | 第19页 |
| 2.4 实验原料 | 第19-20页 |
| 2.5 实验仪器 | 第20页 |
| 2.6 工艺流程图 | 第20-21页 |
| 2.7 实验内容 | 第21-27页 |
| 2.7.1 BaZrO_3基质子导体的制备 | 第21-22页 |
| 2.7.2 性能测试 | 第22-27页 |
| 第3章 Li/Zn双烧结助剂对BaZr_(0.8)Y_(0.2)O_(3-δ)的影响 | 第27-41页 |
| 3.1 Li/Zn添加量的影响 | 第27-33页 |
| 3.1.1 实验部分 | 第27页 |
| 3.1.2 结果与讨论 | 第27-33页 |
| 3.2 烧结温度的影响 | 第33-37页 |
| 3.2.1 实验部分 | 第33-34页 |
| 3.2.2 结果与讨论 | 第34-37页 |
| 3.3 化学稳定性测试 | 第37-39页 |
| 3.4 透氢量的计算 | 第39-40页 |
| 3.5 小结 | 第40-41页 |
| 第4章 BaZr_(0.8-x)Hf_xY_(0.2)O_(3-δ)的制备及性能研究 | 第41-51页 |
| 4.1 实验部分 | 第41页 |
| 4.2 结果与讨论 | 第41-49页 |
| 4.2.1 相组成分析 | 第41-42页 |
| 4.2.2 致密性分析 | 第42-43页 |
| 4.2.3 微观形貌表征 | 第43-44页 |
| 4.2.4 XPS分析 | 第44-45页 |
| 4.2.5 电化学性能分析 | 第45-49页 |
| 4.3 化学稳定性测试 | 第49-50页 |
| 4.5 小结 | 第50-51页 |
| 第5章 烧结助剂对BaZr_(0.6)Hf_(0.2)Y_(0.2)O_(3-δ)的影响 | 第51-60页 |
| 5.1 实验部分 | 第51页 |
| 5.2 结果与讨论 | 第51-57页 |
| 5.2.1 相组成分析 | 第51-52页 |
| 5.2.2 致密性分析 | 第52-53页 |
| 5.2.3 微观形貌表征 | 第53-54页 |
| 5.2.4 电化学性能分析 | 第54-57页 |
| 5.3 化学稳定性测试 | 第57-59页 |
| 5.5 小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 导师简介 | 第69-70页 |
| 作者简介 | 第70-71页 |
| 学位论文数据集 | 第71页 |
