环形阵列超声检测仿真技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题背景及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-15页 |
| ·柱状产品质量检测现状 | 第10-12页 |
| ·超声检测仿真技术的发展概况 | 第12-13页 |
| ·超声波模拟和仿真的解析方法研究现状 | 第13-15页 |
| ·超声波模拟和仿真的数值方法研究现状 | 第15页 |
| ·论文的研究内容及结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 超声辐射声场经典理论分析 | 第17-30页 |
| ·基于瑞利积分声场的分析 | 第17-19页 |
| ·瑞利积分 | 第17-18页 |
| ·瑞利积分的辐射声场 | 第18-19页 |
| ·多元高斯声束模型 | 第19-26页 |
| ·高斯声束模型 | 第19-21页 |
| ·基于高斯声束模型的超声波传播过程 | 第21-24页 |
| ·多元高斯模型 | 第24-26页 |
| ·高斯声场与瑞利积分声场的对比分析 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 基于多元高斯模型阵列超声检测声场 | 第30-40页 |
| ·阵列超声检测原理 | 第30-31页 |
| ·单探头辐射声场算法 | 第31-32页 |
| ·阵列探头辐射声场 | 第32-36页 |
| ·阵列超声检测柱状产品缺陷的辐射声场 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 阵列超声检测信号模拟及重构 | 第40-60页 |
| ·系统效率系数 | 第40-41页 |
| ·缺陷的阵列检测回波信号模拟 | 第41-52页 |
| ·1 探头发射时的信号模拟 | 第42-47页 |
| ·2 探头发射时的信号模拟 | 第47-48页 |
| ·4 探头发射时的信号模拟 | 第48-49页 |
| ·5 探头发射时的信号模拟 | 第49-50页 |
| ·6 探头发射时的信号模拟 | 第50-51页 |
| ·8 探头发射时的信号模拟 | 第51-52页 |
| ·数据处理及分析 | 第52-59页 |
| ·相交定位原理 | 第52-53页 |
| ·数据处理 | 第53-55页 |
| ·缺陷位置的确定 | 第55-58页 |
| ·缺陷的重构 | 第58页 |
| ·误差分析 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 结论 | 第60-62页 |
| ·论文完成的主要工作 | 第60-61页 |
| ·本文的主要创新点与未来展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |