| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第13-25页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-16页 |
| 1.2 研究意义 | 第16-18页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第18-22页 |
| 1.3.1 耦合器分类 | 第18-20页 |
| 1.3.2 几种典型耦合器常温测试平台 | 第20-22页 |
| 1.4 论文创新点 | 第22-23页 |
| 1.5 论文主要工作 | 第23-25页 |
| 第2章 高功率耦合器测试锻炼基本理论 | 第25-34页 |
| 2.1 传输线理论 | 第25-28页 |
| 2.1.1 传输线集总原件模型和特征阻抗 | 第25-26页 |
| 2.1.2 电压反射系数 | 第26-27页 |
| 2.1.3 传输线平均功率流 | 第27页 |
| 2.1.4 S参数 | 第27-28页 |
| 2.2 腔体功率耦合理论 | 第28-31页 |
| 2.2.1 腔体功率耦合器等效电路模型和基本物理参量 | 第28-29页 |
| 2.2.2 腔体瞬态流入功率和反射功率 | 第29-31页 |
| 2.3 二次电子倍增效应 | 第31-32页 |
| 2.4 耦合器常温高功率锻炼 | 第32-34页 |
| 第3章 耦合器测试系统及低电平控制系统开发 | 第34-49页 |
| 3.1 耦合器测试系统整体介绍 | 第34-36页 |
| 3.2 耦合器锻炼流程 | 第36-37页 |
| 3.3 低电平控制系统设计 | 第37-47页 |
| 3.3.1 低电平控制系统硬件设计 | 第38-41页 |
| 3.3.2 低电平控制系统软件设计 | 第41-47页 |
| 3.4 低电平控制系统初步测试及改进 | 第47-49页 |
| 第4章 耦合器测试腔体设计 | 第49-63页 |
| 4.1 测试腔体设计原则 | 第49-50页 |
| 4.2 测试腔体设计难点 | 第50-51页 |
| 4.3 测试腔体功率传输效率分析 | 第51-55页 |
| 4.3.1 测试腔体功率传输效率理论分析 | 第51-53页 |
| 4.3.2 测试腔体功率传输效率模拟验证 | 第53-55页 |
| 4.4 测试腔体结构设计 | 第55-57页 |
| 4.5 测试腔体电磁优化 | 第57-63页 |
| 第5章 耦合器测试锻炼 | 第63-71页 |
| 5.1 耦合器测试锻炼前期准备 | 第63-67页 |
| 5.2 耦合器高功率测试锻炼 | 第67-71页 |
| 第6章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第79页 |