| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| ·多重铁性 | 第11-13页 |
| ·铁磁性 | 第11-12页 |
| ·铁电性 | 第12-13页 |
| ·基于铁电薄膜的器件 | 第13-14页 |
| ·铁电存储器 | 第13-14页 |
| ·铁电场效应管 | 第14页 |
| ·老化对铁电薄膜器件的影响 | 第14页 |
| ·铁电薄膜相关物理模型 | 第14-20页 |
| ·极化翻转模型 | 第14-17页 |
| ·老化微观机制 | 第17-19页 |
| ·导电机制 | 第19-20页 |
| ·多重铁性材料BiFeO_3 | 第20-23页 |
| 第二章 实验方案设计与研究方法 | 第23-29页 |
| ·原料 | 第23-24页 |
| ·样品的制备 | 第24-25页 |
| ·铁电薄膜前驱体溶液的制备 | 第24页 |
| ·铁电薄膜的制备 | 第24-25页 |
| ·结构及性能表征 | 第25-29页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第25-26页 |
| ·原子力显微镜形貌分析 | 第26-27页 |
| ·电学性能表征 | 第27-29页 |
| 第三章 B 位低价掺杂引发的老化行为 | 第29-39页 |
| ·BFO 老化模型 | 第29-31页 |
| ·BFZO 的结构及形貌 | 第31-32页 |
| ·BFZO 的双电滞回线现象 | 第32-33页 |
| ·BFZO 的非对称矫顽场现象 | 第33-35页 |
| ·老化对BFZO 漏电流及抗疲劳强度的影响 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-39页 |
| 第四章 A/B 位低价掺杂引发的老化行为的对比研究 | 第39-55页 |
| ·A/B 位老化行为差异的理论计算 | 第39-41页 |
| ·A/B 位掺杂对晶体结构的影响 | 第41-43页 |
| ·双电滞回线演化过程的比较 | 第43-50页 |
| ·退老化后的电滞回线 | 第50-52页 |
| ·老化对漏电流影响的比较 | 第52-53页 |
| ·老化对铁磁性能影响的比较 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 退老化后的 BCFO 薄膜的结构与性能 | 第55-63页 |
| ·Ca 掺量对 BCFO 薄膜生长取向的影响 | 第56-59页 |
| ·Ca 掺量对 BCFO 薄膜晶格常数的影响 | 第59-60页 |
| ·Ca 掺量对 BCFO 薄膜铁电性能的影响 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 结论与展望 | 第63-65页 |
| ·主要结论 | 第63页 |
| ·主要创新点 | 第63-64页 |
| ·工作展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 附录 | 第73-74页 |