| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 微型示差折光检测器的研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 示差折光检测器 | 第12-14页 |
| 1.2.2 基于平面光波导的干涉式示差折光检测器 | 第14-15页 |
| 1.2.3 基于空间光的干涉式示差折光检测器 | 第15-16页 |
| 1.3 本论文的研究内容及结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 基于空间光杨氏干涉技术和光微流技术的示差折光检测器的基本理论 | 第17-25页 |
| 2.1 光微流技术 | 第17-18页 |
| 2.1.1 微流控技术 | 第17页 |
| 2.1.2 光微流技术及其应用 | 第17-18页 |
| 2.1.3 基于光微流技术的示差折光检测器 | 第18页 |
| 2.2 基于空间光的杨氏干涉技术 | 第18-22页 |
| 2.2.1 基于干涉技术的检测应用 | 第18-19页 |
| 2.2.2 基于空间光的杨氏干涉实验简述 | 第19-20页 |
| 2.2.3 基于空间光的杨氏干涉现象的原理 | 第20-22页 |
| 2.3 结合光微流技术与空间光的杨氏干涉技术的示差折光检测传感器 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 基于光微流和空间光杨氏干涉技术的示差折光检测系统的搭建 | 第25-51页 |
| 3.1 光源的选择 | 第25-26页 |
| 3.2 微流控芯片的制备 | 第26-30页 |
| 3.2.1 微流控芯片简介 | 第26页 |
| 3.2.2 微流控芯片的基底选择 | 第26-28页 |
| 3.2.3 微流控芯片的加工制作 | 第28-30页 |
| 3.3 杨氏干涉双缝的制备 | 第30-33页 |
| 3.3.1 CO_2激光微加工技术 | 第30页 |
| 3.3.2 石英玻璃基底上杨氏双缝的制备 | 第30-33页 |
| 3.4 基于FFT的示差折光检测系统的折射率检测极限的计算 | 第33-38页 |
| 3.5 图像传感器CCD的选取 | 第38-42页 |
| 3.5.1 CCD图像传感器工作原理 | 第38-39页 |
| 3.5.2 CCD图像传感器的分类及应用 | 第39页 |
| 3.5.3 本项目图像传感器的选择 | 第39-42页 |
| 3.6 狭缝的选取与狭缝平面与CCD距离的确定 | 第42-46页 |
| 3.6.1 实验中双缝大小的选取 | 第42-44页 |
| 3.6.2 确定双缝平面与CCD的距离 | 第44-46页 |
| 3.7 微流通道样品溶液的进样方式 | 第46-48页 |
| 3.8 本章小结 | 第48-51页 |
| 第四章 基于已搭建好的示差折光检测系统对样品溶液的检测 | 第51-57页 |
| 4.1 样品溶液的选取 | 第51页 |
| 4.2 样品溶液的配置 | 第51-52页 |
| 4.3 实验过程 | 第52-53页 |
| 4.4 实验数据分析 | 第53-56页 |
| 4.5 实验结论 | 第56页 |
| 4.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 工作总结 | 第57页 |
| 5.2 工作展望 | 第57-59页 |
| 利用FFT计算示差折光检测系统检测极限的部分程序 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 硕士阶段科研成果 | 第69页 |
