随机数发生器的设计与研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 1 绪论 | 第7-10页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第7页 |
| ·随机数发生器的研究现状及发展趋势 | 第7-8页 |
| ·论文的结构安排 | 第8-10页 |
| 2 随机数的基本概念及其发生器的原理 | 第10-18页 |
| ·随机数的基本概念 | 第10-11页 |
| ·随机数的相关属性 | 第10页 |
| ·评价随机序列质量的主要指标 | 第10-11页 |
| ·伪随机数发生器的原理 | 第11-12页 |
| ·伪随机数发生器概述 | 第11页 |
| ·产生伪随机数的常用方法及对比 | 第11-12页 |
| ·真随机数发生器的原理 | 第12-16页 |
| ·真随机数发生器概述 | 第12-13页 |
| ·产生真随机数的常用方法 | 第13-15页 |
| ·对真随机数发生器的需求 | 第15-16页 |
| ·随机序列产生器的选择 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 3 随机序列的测试标准 | 第18-25页 |
| ·统计测试基础 | 第18页 |
| ·测试方法的理论基础 | 第18-19页 |
| ·随机数发生器的常用测试方法 | 第19-23页 |
| ·FIPS 的测试方法 | 第19-21页 |
| ·NIST 的测试方法 | 第21-22页 |
| ·独立性的测试方法 | 第22-23页 |
| ·LE 系统中对随机数的测试方法 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 4 真随机脉冲X 射线CCD 信号发生器的设计 | 第25-43页 |
| ·系统的功能需求及接口特性 | 第25-27页 |
| ·系统功能需求 | 第25页 |
| ·CCD 模拟器的电接口特性 | 第25-27页 |
| ·CCD 模拟器的机械接口特性 | 第27页 |
| ·设计方案 | 第27-34页 |
| ·总体方案 | 第27页 |
| ·设计的结构框图 | 第27-29页 |
| ·系统时序设计 | 第29-31页 |
| ·信号幅度控制 | 第31-32页 |
| ·核信号时间上的统计特性 | 第32-34页 |
| ·CCD 模拟器电路设计 | 第34-35页 |
| ·信号处理电路分析 | 第34页 |
| ·数字部分电路分析 | 第34页 |
| ·开关电源参数设置 | 第34-35页 |
| ·基于振荡采样法真随机数发生器的设计 | 第35-42页 |
| ·随机源模块设计 | 第35-40页 |
| ·后处理模块设计 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 5 仿真验证及性能测试 | 第43-54页 |
| ·测试系统结构介绍 | 第43页 |
| ·FPGA 下载及配置 | 第43-47页 |
| ·基于振荡采样法参数的选择 | 第47-49页 |
| ·产生随机序列的质量测试 | 第49-52页 |
| ·系统的线性度测试 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 6 总结与展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 附录 | 第59-64页 |
