摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第10-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-16页 |
1.2.1 岩体结构面信息获取方法及后处理现状 | 第10-12页 |
1.2.2 结构面三维网络模型研究现状 | 第12-15页 |
1.2.3 块体识别研究现状 | 第15-16页 |
1.3 论文主要研究内容与研究思路 | 第16-18页 |
2 岩体结构面几何特征参数的数字化获取方法 | 第18-30页 |
2.1 测区结构面发育基本情况 | 第18-19页 |
2.2 迹线三维模型 | 第19-22页 |
2.2.1 获取结构面迹线信息 | 第19-20页 |
2.2.2 建立地形TIN模型 | 第20-21页 |
2.2.3 建立迹线三维模型 | 第21-22页 |
2.3 结构面迹长计算 | 第22-23页 |
2.4 结构面产状计算 | 第23-24页 |
2.5 结构面间距的获取 | 第24-26页 |
2.5.1 结构面间距概念与测量计算 | 第24-25页 |
2.5.2 数字测线的自动布置 | 第25页 |
2.5.3 间距算法 | 第25-26页 |
2.6 结构面面密度的获取 | 第26-29页 |
2.6.1 面密度概念与估算理论 | 第26-27页 |
2.6.2 数字测窗的自动布置 | 第27页 |
2.6.3 面密度算法 | 第27-29页 |
2.7 本章小结 | 第29-30页 |
3 岩体结构面几何特征统计分析 | 第30-46页 |
3.1 结构面迹长统计分析 | 第30-32页 |
3.1.1 迹长的概率统计模型 | 第30页 |
3.1.2 迹长数据的分布拟合与统计 | 第30-32页 |
3.1.3 基于迹长的结构面连续性判定 | 第32页 |
3.2 结构面间距统计分析 | 第32-34页 |
3.2.1 间距的概率统计模型 | 第32页 |
3.2.2 间距数据的分布拟合与统计 | 第32-34页 |
3.2.3 间距与结构面密度 | 第34页 |
3.3 结构面面密度统计分析 | 第34-39页 |
3.3.1 Mauldon法面密度估算值与真值对比分析 | 第34-37页 |
3.3.2 面密度的概率统计模型及分布拟合与统计 | 第37-39页 |
3.4 基于数字化面密度统计方法的断裂带影响范围分析 | 第39-45页 |
3.5 本章小结 | 第45-46页 |
4 结构面三维网络模型的研究与优化 | 第46-64页 |
4.1 模型建立的前期准备 | 第46页 |
4.2 结构面产状模型的建立 | 第46-49页 |
4.2.1 概率分布模型 | 第46-47页 |
4.2.2 随机产状数据的生成 | 第47-48页 |
4.2.3 模型产状数据 | 第48-49页 |
4.3 圆盘尺寸模型的建立 | 第49-51页 |
4.3.1 圆盘直径的概率分布模型 | 第49-50页 |
4.3.2 随机直径数据的生成 | 第50-51页 |
4.3.3 模型圆盘直径数据 | 第51页 |
4.4 结构面模拟空间与体密度估算 | 第51-53页 |
4.4.1 结构面模拟空间 | 第51-52页 |
4.4.2 体密度估算 | 第52-53页 |
4.5 结构面三维网络模型的建模流程 | 第53-54页 |
4.6 基于实测迹长数据的圆盘半径优化 | 第54-63页 |
4.6.1 模型交切面迹长计算 | 第54-56页 |
4.6.2 差分进化算法 | 第56-58页 |
4.6.3 优化流程 | 第58-60页 |
4.6.4 优化后模型评估 | 第60-63页 |
4.7 本章小结 | 第63-64页 |
5 基于结构面三维网络模型的巷道开挖块体识别及分析 | 第64-75页 |
5.1 关键块体理论及其在结构面三维网络模拟中的应用 | 第64-65页 |
5.2 典型块体识别方法 | 第65-67页 |
5.2.1 基于拓扑理论的三维块体识别方法 | 第65-66页 |
5.2.2 基于凸体组合的三维块体识别方法 | 第66-67页 |
5.3 巷道开挖块体识别实例 | 第67-71页 |
5.3.1 三维网络模型与巷道模型 | 第67-68页 |
5.3.2 巷道面迹线计算与封闭回路筛选 | 第68-69页 |
5.3.3 相关结构面交线计算 | 第69页 |
5.3.4 封闭块体搜索 | 第69-70页 |
5.3.5 块体搜索流程 | 第70-71页 |
5.4 块体几何形态及体积统计分析 | 第71-72页 |
5.5 块体结构面产状分布情况 | 第72-74页 |
5.6 小结 | 第74-75页 |
6 结论与展望 | 第75-78页 |
6.1 结论 | 第75-76页 |
6.2 展望 | 第76-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-87页 |
附录 | 第87页 |