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信息技术设备电磁兼容性测试

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 引言第14-17页
    1.1 背景第14页
    1.2 本项目的目的和价值第14页
    1.3 国内外的测试标准组织第14-15页
    1.4 论文的内容第15-17页
第二章 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法第17-38页
    2.1 信息技术设备的无线电骚扰限值第17-22页
        2.1.1 依据第17页
        2.1.2 范围第17页
        2.1.3 引用标准第17页
        2.1.4 信息技术设备第17-18页
        2.1.5 电源端子和电信端口的传导骚扰限值第18-20页
        2.1.6 辐射骚扰限值第20-21页
        2.1.7 对无线电骚扰限值的说明第21-22页
    2.2 一般测量条件第22-27页
        2.2.1 EUT的配置第22-25页
        2.2.2 最大发射配置的确定第25页
        2.2.3 EUT与接地平板的布置第25-26页
        2.2.4 EUT的工作状态第26-27页
    2.3 电源端子和电信端口的传导骚扰测量方法第27-33页
        2.3.1 测量接收机第27页
        2.3.2 人工电源网络(AMN)第27-29页
        2.3.3 接地平板第29页
        2.3.4 EUT的布置第29-30页
        2.3.5 电信端口的骚扰测量第30-33页
        2.3.6 测量记录第33页
    2.4 辐射骚扰测量方法第33-38页
        2.4.1 测量接收机第34页
        2.4.2 测量天线第34-35页
        2.4.3 试验场地第35-36页
        2.4.4 EUT的布置第36页
        2.4.5 测量记录第36页
        2.4.6 大的环境信号存在时的测量第36-38页
第三章 信息技术设备抗扰度限值和测量方法第38-48页
    3.1 信息技术设备抗扰度限值第38-43页
        3.1.1 依据第38页
        3.1.2 范围和目的第38页
        3.1.3 引用标准第38-39页
        3.1.4 抗扰度试验一般要求第39-42页
        3.1.5 适用性第42-43页
    3.2 试验时EUT的状态第43-44页
        3.2.1 一般状态第43页
        3.2.2 特定状态(EUT工作方式等等)第43-44页
    3.3 性能判据第44-45页
        3.3.1 一般性能判据第44-45页
        3.3.2 特定性能判据第45页
    3.4 产品技术文件第45-48页
第四章 静电放电抗扰度试验第48-55页
    4.1 项目名称第48页
    4.2 依据第48页
    4.3 环境条件第48页
    4.4 使用仪器和附件第48页
    4.5 试验等级第48-49页
    4.6 试验配置第49-51页
        4.6.1 实验室试验的配置第49-51页
            4.6.1.1 台式设备第50页
            4.6.1.2 落地式设备第50-51页
        4.6.2 安装后试验的配置第51页
    4.7 试验程序第51-53页
        4.7.1 受试设备的考核第51页
        4.7.2 试验的实施第51-53页
            4.7.2.1 对受试设备直接施加的放电第52-53页
            4.7.2.2 间接施加的放电第53页
                4.7.2.2.1 在受试设备下面的水平耦合板第53页
                4.7.2.2.2 垂直耦合板第53页
    4.8 试验结果和试验报告第53-55页
第五章 射频电磁场辐射抗扰度试验第55-61页
    5.1 项目名称第55页
    5.2 依据第55页
    5.3 使用仪器和附件第55页
    5.4 试验等级第55-56页
    5.5 试验布置第56-57页
        5.5.1 台式设备的布置第56页
        5.5.2 落地式设备的布置第56-57页
        5.5.3 布线第57页
    5.6 试验程序第57-59页
    5.7 试验结果和试验报告第59-61页
第六章 电快速脉冲群抗扰度试验第61-68页
    6.1 项目名称第61页
    6.2 依据第61页
    6.3 环境条件第61页
    6.4 使用仪器和附件第61页
    6.5 试验等级第61-62页
    6.6 试验配置第62-65页
        6.6.1 在实验室进行型式试验的试验配置第62-63页
            6.6.1.1 下述要求适用于上面规定的环境条件下的实验室试验第62-63页
            6.6.1.2 把试验电压耦合到受试设备的方法第63页
        6.6.2 安装后试验的试验装置第63-65页
            6.6.2.1 对供电电源端子和保护接地端子的试验第64页
            6.6.2.2 对I/O和通信端口的试验第64-65页
    6.7 试验程序第65-67页
        6.7.1 受试设备的考核第65页
        6.7.2 试验的实施第65-67页
            6.7.2.1 对受试设备直接施加的放电第65-66页
            6.7.2.2 间接施加的放电第66-67页
                6.7.2.2.1 在受试设备下面的水平耦合板第66页
                6.7.2.2.2 垂直耦合板第66-67页
    6.8 试验结果和试验报告第67-68页
第七章 浪涌冲击抗扰度试验第68-74页
    7.1 项目名称第68页
    7.2 依据第68页
    7.3 使用仪器和附件第68页
    7.4 试验等级第68-69页
    7.5 试验配置第69-71页
        7.5.1 试验设备第69页
        7.5.2 EUT电源试验的配置第69页
        7.5.3 非屏蔽不对称工作互连线试验的配置第69-70页
        7.5.4 非屏蔽对称工作互连线/通信线试验的配置第70页
        7.5.5 屏蔽线试验的配置第70页
        7.5.6 施加电位差的试验配置第70页
        7.5.7 其他试验配置第70-71页
        7.5.8 试验条件第71页
    7.6 试验程序第71-72页
        7.6.1 实验室内施加浪涌第71-72页
    7.7 试验结果和试验报告第72-74页
第八章 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验第74-82页
    8.1 项目名称第74页
    8.2 依据第74页
    8.3 使用仪器和附件第74页
    8.4 试验等级第74-75页
    8.5 用于台式和落地式设备的试验配置第75-79页
        8.5.1 选择注入法和试验点的规则第75-77页
        8.5.2 采用钳注入法的程序第77-78页
        8.5.3 当不满足共模阻抗要求时用钳注入法的程序第78页
        8.5.4 单个单元构成的受试设备第78-79页
        8.5.5 多个单元构成的受试设备第79页
    8.6 试验程序第79-80页
    8.7 试验结果和试验报告第80-82页
第九章 工频磁场抗扰度试验第82-87页
    9.1 项目名称第82页
    9.2 依据第82页
    9.3 环境条件第82页
    9.4 使用仪器和附件第82页
    9.5 试验等级第82-83页
    9.6 试验配置第83-85页
        9.6.1 接地参考平面第83-84页
        9.6.2 受试设备第84页
        9.6.3 试验发生器第84页
        9.6.4 感应线圈第84-85页
    9.7 试验程序第85-86页
        9.7.1 实验室参考条件第85页
        9.7.2 进行试验第85-86页
    9.8 试验结果和试验报告第86-87页
第十章 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验第87-91页
    10.1 项目名称第87页
    10.2 依据第87页
    10.3 环境条件第87页
    10.4 使用仪器和附件第87页
    10.5 试验等级第87-89页
        10.5.1 电压暂降和短时中断第88页
        10.5.2 电压变化(供选择)第88-89页
    10.6 试验配置第89页
    10.7 试验程序第89-90页
        10.7.1 试验第89-90页
            10.7.1.1 电压暂降和短时中断第89-90页
    10.8 试验结果和试验报告第90-91页
第十一章 信息技术设备电源端口传导骚扰测量不确定度评定第91-97页
    11.1 依据第91页
    11.2 数学模型第91页
    11.3 不确定度的来源分析第91-94页
        11.3.1 接收机读数的变化第91-92页
        11.3.2 接收机与人工电源网络之间的连接网络的衰减量L_C的估计值第92页
        11.3.3 人工电源网络电压分压比的估计值L_(AMN)第92页
        11.3.4 对接收机正弦波电压准确度的修正值△V_(SW)的估计值第92页
        11.3.5 接收机的脉冲响应特性的影响第92-93页
        11.3.6 接收机的噪声本底的影响第93页
        11.3.7 失配误差的影响第93-94页
        11.3.8 人工电源网络的阻抗不理想第94页
    11.4 信息技术设备的电源端口传导骚扰测量的不确定度评定第94-97页
第十二章 信息技术设备辐射骚扰测量不确定度评定第97-108页
    12.1 依据第97页
    12.2 数学模型第97-98页
    12.3 不确定度的来源分析第98-103页
        12.3.1 接收机读数的变化第98页
        12.3.2 接收机与人工电源网络之间的连接网络的衰减量L_C的估计值第98页
        12.3.3 自由空间天线系数AF第98页
        12.3.4 对接收机正弦波电压准确度的修正值△V_(SW)的估计值第98页
        12.3.5 接收机的脉冲响应特性的影响第98-99页
        12.3.6 接收机的噪声本底的影响第99页
        12.3.7 失配误差的影响第99-100页
        12.3.8 内插误差第100-101页
        12.3.9 天线高度偏差第101页
        12.3.10 天线方向性影响第101页
        12.3.11 相位中心位置的修正值△A_(PH)第101-102页
        12.3.12 天线交叉极化影响第102页
        12.3.13 天线不平衡的影响第102页
        12.3.14 场地不完善的影响第102页
        12.3.15 天线和EUT间距误差第102-103页
        12.3.16 桌子高度的误差影响第103页
    12.4 信息技术设备辐射骚扰测量的不确定度评定第103-108页
第十三章 信息技术设备静电放电抗扰度试验测量不确定度评定第108-111页
第十四章 信息技术设备辐射抗扰度试验测量不确定度评定第111-113页
    14.1 依据第111页
    14.2 数学模型第111页
    14.3 预先已校准场电平时不确定度的评定第111-113页
第十五章 总结第113-114页
致谢第114-115页
参考文献第115-117页
在学期间研究成果第117页

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