致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
1 引言 | 第12-20页 |
1.1 研究的背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究水平 | 第13-17页 |
1.2.1 高频电流检测技术 | 第14-15页 |
1.2.2 特高频检测技术 | 第15-16页 |
1.2.3 超声波检测技术 | 第16-17页 |
1.2.4 暂态地电压检测技术 | 第17页 |
1.3 本文的主要工作 | 第17-20页 |
2 开关柜局部放电的典型缺陷及检测技术 | 第20-30页 |
2.1 局部放电的分类与机理 | 第20-25页 |
2.1.1 气隙放电 | 第20-22页 |
2.1.2 沿面放电 | 第22-23页 |
2.1.3 悬浮电位放电 | 第23-24页 |
2.1.4 电晕放电 | 第24-25页 |
2.2 开关柜局部放电检测技术的原理 | 第25-29页 |
2.2.1 常规脉冲电流检测法 | 第25页 |
2.2.2 高频电流检测法 | 第25-26页 |
2.2.3 特高频检测法 | 第26-27页 |
2.2.4 超声波检测法 | 第27-28页 |
2.2.5 暂态地电压检测法 | 第28-29页 |
2.3 本章小结 | 第29-30页 |
3 开关柜局部放电UHF电磁波传播特性研究 | 第30-52页 |
3.1 理论基础 | 第30-33页 |
3.1.1 局部放电UHF电磁波辐射的基本原理 | 第30-31页 |
3.1.2 障碍物对UHF电磁波的绕射作用 | 第31-33页 |
3.2 开关柜缝隙处场强分布的研究 | 第33-36页 |
3.2.1 矩形波导理论 | 第33-35页 |
3.2.2 开关柜缝隙处辐射电场强度分析 | 第35-36页 |
3.3 仿真原理与仿真方案设计 | 第36-43页 |
3.3.1 FDTD原理 | 第37-39页 |
3.3.2 仿真软件XFDTD | 第39-40页 |
3.3.3 仿真模型搭建与局放源设置 | 第40-43页 |
3.4 仿真结果分析 | 第43-50页 |
3.4.1 开关柜局部放电UHF电磁波的辐射过程 | 第43-44页 |
3.4.2 不同缝隙处各个方向上的辐射电场强度 | 第44-46页 |
3.4.3 开关柜内外不同观测点的辐射电场强度 | 第46-49页 |
3.4.4 不同位置的局放源对缝隙处辐射电场强度的影响 | 第49-50页 |
3.5 本章小结 | 第50-52页 |
4 开关柜局部放电带电检测技术适应性实验研究 | 第52-88页 |
4.1 开关柜局部放电带电检测传感器的选择 | 第52-58页 |
4.1.1 高频电流传感器 | 第52-53页 |
4.1.2 特高频传感器 | 第53-55页 |
4.1.3 超声波传感器 | 第55-56页 |
4.1.4 暂态地电压传感器 | 第56-58页 |
4.2 开关柜局部放电典型缺陷模型的设计与制作 | 第58-61页 |
4.2.1 气隙放电模型 | 第58页 |
4.2.2 沿面放电模型 | 第58-59页 |
4.2.3 悬浮电位放电模型 | 第59-60页 |
4.2.4 电晕放电模型 | 第60-61页 |
4.3 实验系统、设备与步骤 | 第61-64页 |
4.4 实验结果与分析 | 第64-85页 |
4.4.1 气隙放电 | 第64-70页 |
4.4.2 沿面放电 | 第70-74页 |
4.4.3 悬浮电位放电 | 第74-78页 |
4.4.4 电晕放电 | 第78-85页 |
4.5 本章小结 | 第85-88页 |
5 结论与展望 | 第88-90页 |
参考文献 | 第90-92页 |
作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第92-96页 |
学位论文数据集 | 第96页 |