| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第7-10页 |
| 1.1 FPGA测试概述 | 第7-8页 |
| 1.2 论文工作内容 | 第8页 |
| 1.3 论文结构 | 第8-10页 |
| 第2章 技术背景 | 第10-21页 |
| 2.1 FPGA测试内容 | 第10-12页 |
| 2.1.1 功能测试 | 第10-11页 |
| 2.1.2 性能测试 | 第11-12页 |
| 2.2 FPGA的测试原理 | 第12-19页 |
| 2.2.1 JTAG边界扫描 | 第12-13页 |
| 2.2.2 内建自测试 | 第13-15页 |
| 2.2.3 类JTAG协议 | 第15-18页 |
| 2.2.4 ATE机台测试 | 第18-19页 |
| 2.3 本章总结 | 第19-21页 |
| 第3章 FDP-FPGA测试平台软件 | 第21-46页 |
| 3.1 PC测试平台软件 | 第21-33页 |
| 3.1.1 FDP-FPGA编程下载软件 | 第21-28页 |
| 3.1.2 FDP-FPGA遍历测试软件 | 第28-30页 |
| 3.1.3 BRAM内建自测试生成软件 | 第30-32页 |
| 3.1.4 其他软件 | 第32-33页 |
| 3.2 NI PXI测试平台软件 | 第33-39页 |
| 3.2.1 NI PXI位流与激励生成软件 | 第33-35页 |
| 3.2.2 NI PXI遍历测试软件 | 第35-39页 |
| 3.3 ATE测试平台软件 | 第39-45页 |
| 3.3.1 ATE机台测试文件简介 | 第39-43页 |
| 3.3.2 93000 vector/timing生成软件 | 第43-44页 |
| 3.3.3 J750位流激励PATTERN生成软件 | 第44-45页 |
| 3.4 本章总结 | 第45-46页 |
| 第4章 FDP-FPGA测试平台软件集成设计 | 第46-71页 |
| 4.1 测试软件平台集成框架 | 第46-47页 |
| 4.2 测试软件平台集成规范 | 第47-53页 |
| 4.2.1 目录规范 | 第47-48页 |
| 4.2.2 配置文件规范 | 第48-50页 |
| 4.2.3 测试软件规范 | 第50-53页 |
| 4.3 FDP-FPGA测试平台软件界面功能 | 第53-64页 |
| 4.3.1 主界面 | 第53-54页 |
| 4.3.2 工程模式 | 第54-56页 |
| 4.3.3 导入/升级功能 | 第56-57页 |
| 4.3.4 版本管理功能 | 第57-59页 |
| 4.3.5 保存功能 | 第59-60页 |
| 4.3.6 打开功能 | 第60-61页 |
| 4.3.7 升级功能 | 第61-62页 |
| 4.3.8 其他功能 | 第62-64页 |
| 4.4 集成化平台使用指南 | 第64-69页 |
| 4.4.1 普通模式 | 第64-66页 |
| 4.4.2 工程模式 | 第66-69页 |
| 4.5 测试软件集成环境优点分析 | 第69-70页 |
| 4.6 本章总结 | 第70-71页 |
| 第5章 FDP-FPGA测试平台软件应用与验证 | 第71-77页 |
| 5.1 PC测试平台遍历测试 | 第71-72页 |
| 5.2 NI PXI测试平台遍历测试 | 第72-74页 |
| 5.3 J750测试平台遍历测试 | 第74-77页 |
| 第6章 总结与展望 | 第77-80页 |
| 6.1 论文总结 | 第77页 |
| 6.2 论文中的创新点 | 第77-78页 |
| 6.3 对后续工作的展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |