| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外发展现状及趋势 | 第9-11页 |
| 1.3 研究内容 | 第11页 |
| 1.4 论文的主要结构 | 第11-14页 |
| 2 Buck型数字DC-DC变换器的工作原理 | 第14-28页 |
| 2.1 Buck型数字DC-DC开关变换器的拓扑结构 | 第14-15页 |
| 2.2 Buck型数字DC-DC开关变换器的工作原理 | 第15-18页 |
| 2.2.1 开关S1导通阶段 | 第16-17页 |
| 2.2.2 开关S1关断阶段 | 第17-18页 |
| 2.3 Buck数字DC-DC变换器的电感电流与输出电流的关系 | 第18页 |
| 2.4 Buck型数字DC-DC变换器功率级的数学模型 | 第18-23页 |
| 2.4.1 电容电压、电感电流和输入电流的开关周期平均值 | 第19-20页 |
| 2.4.2 功率级数学模型推导 | 第20-23页 |
| 2.5 Buck型数字DC-DC变换器功率级元件选取 | 第23-24页 |
| 2.5.1 电感选取原则 | 第23页 |
| 2.5.2 电容选取原则 | 第23-24页 |
| 2.6 Buck型DC-DC变换器调制模式 | 第24-25页 |
| 2.6.1 脉宽调制模式 | 第24页 |
| 2.6.2 脉频调制模式 | 第24-25页 |
| 2.6.3 混合调制模式 | 第25页 |
| 2.7 数字DC-DC变换器PWM模式控制模式 | 第25-27页 |
| 2.7.1 数字DC-DC变换器电压型PWM控制原理 | 第25-26页 |
| 2.7.2 电流型PWM控制原理 | 第26-27页 |
| 2.8 本章小结 | 第27-28页 |
| 3 DPID模块的设计、仿真验证及实现 | 第28-44页 |
| 3.1 开关变换器系统的性能指标 | 第28-32页 |
| 3.1.1 时域性能分析 | 第28-31页 |
| 3.1.2 频域性能分析 | 第31-32页 |
| 3.2 PID控制算法 | 第32-34页 |
| 3.2.1 连续PID控制算法 | 第32-33页 |
| 3.2.2 离散PID控制算法 | 第33-34页 |
| 3.3 PID控制器的设计 | 第34-40页 |
| 3.3.1 被控制对象的性能分析 | 第34-36页 |
| 3.3.2 补偿网络传递函数的确定 | 第36-39页 |
| 3.3.3 Buck型DC-DC变换器Matlab Simulink建模与仿真 | 第39-40页 |
| 3.4 PID控制器的实现 | 第40-43页 |
| 3.4.1 补偿器传递函数的离散化 | 第40-41页 |
| 3.4.2 DPID的定点数实现 | 第41-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 4 DPWM模块的设计与仿真验证 | 第44-56页 |
| 4.1 DPWM的分类及原理 | 第44-47页 |
| 4.1.1 计数型DPWM | 第44-45页 |
| 4.1.2 数字抖动型DPWM | 第45页 |
| 4.1.3 延迟型DPWM | 第45-46页 |
| 4.1.4 混合型DPWM | 第46-47页 |
| 4.2 带有DLL的DPWM模块的设计 | 第47-54页 |
| 4.2.1 带有DLL的DPWM的工作原理 | 第48-49页 |
| 4.2.2 DLL的设计与仿真 | 第49-54页 |
| 4.3 带有DLL的DPWM模块的整体仿真 | 第54-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 5 数字DC-DC变换器的系统分析及仿真验证 | 第56-72页 |
| 5.1 数字电源系统结构 | 第56-61页 |
| 5.1.1 ADC的电路结构与原理 | 第56-57页 |
| 5.1.2 本文采用的ADC电路分析 | 第57-59页 |
| 5.1.3 本文采用的ADC仿真验证 | 第59页 |
| 5.1.4 控制电路模块间的关联性 | 第59-61页 |
| 5.2 输出可调的数字DC-DC变换器的实现方法 | 第61-63页 |
| 5.3 输出可调数字DC-DC变换器的仿真 | 第63-67页 |
| 5.3.1 输出电压及输出电压纹波仿真分析 | 第63-64页 |
| 5.3.2 输出电压线性调整率仿真分析 | 第64-65页 |
| 5.3.3 输出电压负载调整率仿真分析 | 第65-66页 |
| 5.3.4 转换效率 | 第66-67页 |
| 5.4 数字DC-DC整体电路版图及芯片测试 | 第67页 |
| 5.5 数字DC-DC芯片测试 | 第67-71页 |
| 5.5.1 数字DC-DC芯片测试电路 | 第67-68页 |
| 5.5.2 测试方案 | 第68-69页 |
| 5.5.3 测试结果即分析 | 第69-70页 |
| 5.5.4 失效性分析 | 第70-71页 |
| 5.6 本章小结 | 第71-72页 |
| 6 总结与展望 | 第72-74页 |
| 6.1 研究工作总结 | 第72页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-77页 |
