基于NIOS Ⅱ的数字频率特性测试仪
| 附表 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究目的与意义 | 第11页 |
| 1.2 国内外相关研究综述 | 第11-14页 |
| 1.3 本论文的主要工作及框架 | 第14-16页 |
| 第二章 频率特性测试原理与方案 | 第16-27页 |
| 2.1 频率合成技术 | 第17-23页 |
| 2.1.1 直接模拟频率合成器 | 第17-18页 |
| 2.1.2 锁相环频率合成器 | 第18-19页 |
| 2.1.3 直接数字频率合成技术 | 第19-23页 |
| 2.2 幅值与相位检测方法 | 第23-25页 |
| 2.2.1 幅值检测 | 第23-24页 |
| 2.2.2 相位检测 | 第24-25页 |
| 2.3 数字频率特性测试仪设计指标 | 第25-26页 |
| 2.4 系统总体设计方案 | 第26-27页 |
| 第三章 扫频信号源设计 | 第27-52页 |
| 3.1 双路信号发生器设计 | 第27-30页 |
| 3.2 DDS杂散抑制电路 | 第30-37页 |
| 3.3 扫频信号发生器测试 | 第37-39页 |
| 3.4 宽带程控放大电路设计 | 第39-48页 |
| 3.4.1 放大器件选型 | 第39-41页 |
| 3.4.2 带宽与增益起伏控制 | 第41-44页 |
| 3.4.3 增益控制与直流偏置抑制 | 第44-45页 |
| 3.4.4 噪声分析与改进 | 第45-48页 |
| 3.5 程控放大器测试 | 第48-52页 |
| 第四章 幅频与相频检测 | 第52-71页 |
| 4.1 自动增益控制电路 | 第52-57页 |
| 4.1.1 低噪前置程控放大电路 | 第54-55页 |
| 4.1.2 峰值检测 | 第55-56页 |
| 4.1.3 自动增益控制电路测试 | 第56-57页 |
| 4.2 增益与相位差检测电路 | 第57-60页 |
| 4.3 闭环相位检测 | 第60-64页 |
| 4.4 模拟通道频率特性测试 | 第64-65页 |
| 4.5 主控与软件设计 | 第65-68页 |
| 4.6 频率特性测试 | 第68-71页 |
| 第五章 总结与工作展望 | 第71-72页 |
| 附录一 DDS电路原理图 | 第72-73页 |
| 附录二 改进后的程控放大电路原理图 | 第73-74页 |
| 攻读硕士期间科研成果 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
