基于阵列合成的相关干涉仪测向算法的实现
摘要 | 第3-4页 |
abstract | 第4-5页 |
注释表 | 第12-13页 |
第1章 引言 | 第13-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
1.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
1.3 研究内容 | 第16-17页 |
1.4 论文结构安排 | 第17-18页 |
第2章 无线电测向关键技术的研究 | 第18-32页 |
2.1 测向系统组成和原理 | 第18-21页 |
2.1.1 测向系统组成 | 第18页 |
2.1.2 常见的测向体制 | 第18-21页 |
2.2 干涉仪测向算法 | 第21-24页 |
2.2.1 相位干涉仪测向算法 | 第22-24页 |
2.2.2 相关干涉仪测向算法 | 第24页 |
2.3 阵列合成技术 | 第24-28页 |
2.3.1 阵列合成技术概述 | 第25-26页 |
2.3.2 阵列合成方法 | 第26-28页 |
2.4 相关干涉仪测向系统分类与主要指标 | 第28-31页 |
2.4.1 相关干涉仪测向系统分类 | 第28-30页 |
2.4.2 主要性能指标 | 第30-31页 |
2.5 本章小结 | 第31-32页 |
第3章 相关干涉仪测向算法的研究及优化 | 第32-53页 |
3.1 相关处理算法研究 | 第32-35页 |
3.1.1 相位差直接相关法 | 第32-33页 |
3.1.2 余弦法 | 第33-34页 |
3.1.3 算法仿真与结论 | 第34-35页 |
3.2 改进的相关处理算法 | 第35-43页 |
3.2.1 相关处理模型改进 | 第36-37页 |
3.2.2 局部搜索算法 | 第37-39页 |
3.2.3 算法的设计与仿真 | 第39-43页 |
3.3 样本库的采集与优化 | 第43-52页 |
3.3.1 样本库采集 | 第44-46页 |
3.3.2 样本库异常值修正 | 第46-51页 |
3.3.3 样本库插值 | 第51-52页 |
3.4 本章小结 | 第52-53页 |
第4章 测向算法的工程实现 | 第53-68页 |
4.1 相关干涉仪测向系统 | 第53-56页 |
4.1.1 系统硬件介绍 | 第53-55页 |
4.1.2 系统软件介绍 | 第55-56页 |
4.2 改进算法的实现 | 第56-60页 |
4.2.1 相位差的提取 | 第56-57页 |
4.2.2 算法DSP移植 | 第57-59页 |
4.2.3 测向结果与分析 | 第59-60页 |
4.3 阵列合成技术的应用 | 第60-64页 |
4.4 基于阵列合成的测向结果分析 | 第64-67页 |
4.5 本章小结 | 第67-68页 |
第5章 测向系统测试 | 第68-76页 |
5.1 测试系统 | 第68-70页 |
5.1.1 平台介绍 | 第68-69页 |
5.1.2 参数设置 | 第69-70页 |
5.1.3 测试步骤 | 第70页 |
5.2 测试方法及结果 | 第70-75页 |
5.2.1 测试方法 | 第71页 |
5.2.2 测试结果及分析 | 第71-75页 |
5.3 本章小结 | 第75-76页 |
第6章 总结与展望 | 第76-78页 |
6.1 总结 | 第76-77页 |
6.2 展望 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
攻读硕士学位期间从事的科研工作及取得的成果 | 第82页 |