混合信号示波器中高速信号的采样与测试技术的研究与实现
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
缩略语表 | 第9-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 示波器的演进历程 | 第10页 |
1.2 课题相关技术的研究现状和主要特点 | 第10-12页 |
1.3 论文的研究内容与组织结构 | 第12-14页 |
第二章 系统整体设计 | 第14-20页 |
2.1 系统整体框架 | 第14-15页 |
2.2 主要芯片的选型 | 第15-19页 |
2.2.1 ADC | 第15-16页 |
2.2.2 时钟芯片 | 第16-17页 |
2.2.3 FPGA | 第17-19页 |
2.2.4 SRAM | 第19页 |
2.3 本章小结 | 第19-20页 |
第三章 高速信号采集和重构系统的设计 | 第20-44页 |
3.1 采样和重构技术介绍 | 第20-23页 |
3.1.1 采样理论基础 | 第20-21页 |
3.1.2 时间交织采样 | 第21页 |
3.1.3 等效时间采样 | 第21-22页 |
3.1.4 正弦插值滤波 | 第22-23页 |
3.2 总体设计 | 第23-24页 |
3.3 高速信号的采集接口电路设计 | 第24-26页 |
3.3.1 高速ADC采集接口的设计 | 第24-25页 |
3.3.2 高速数据的接收和降速 | 第25-26页 |
3.3.3 源同步时钟的接收和调整 | 第26页 |
3.4 采集和存储控制的设计 | 第26-32页 |
3.4.1 触发与时基的设计要求 | 第26-28页 |
3.4.2 触发与采集的控制流程 | 第28-30页 |
3.4.3 各时基抽点存储的实现 | 第30-32页 |
3.5 并行采集的触发点校正 | 第32-35页 |
3.5.1 触发抖动分析 | 第32-33页 |
3.5.2 触发抖动的补偿 | 第33-34页 |
3.5.3 快速定位技术的原理与实现 | 第34-35页 |
3.6 随机采样电路的设计 | 第35-42页 |
3.6.1 二次内插时间测量电路的设计 | 第36-39页 |
3.6.2 波形重构电路的设计 | 第39-40页 |
3.6.3 均值滤波模块的设计 | 第40-42页 |
3.7 基于FPGA的插值模块的设计 | 第42-43页 |
3.8 本章小结 | 第43-44页 |
第四章 基于数字荧光的波形测试和分析技术 | 第44-70页 |
4.1 测试和分析技术介绍 | 第44-45页 |
4.2 数字荧光显示原理和模型分析 | 第45-50页 |
4.2.1 数字荧光显示原理 | 第46-47页 |
4.2.2 频度更新运算的模型分析 | 第47-48页 |
4.2.3 颜色空间量化的模型分析 | 第48-50页 |
4.3 数字荧光处理的实现和优化 | 第50-60页 |
4.3.1 波形频度更新单元的实现 | 第50-51页 |
4.3.2 波形成像处理单元的实现 | 第51-56页 |
4.3.3 提升波形捕获率的优化结构 | 第56-58页 |
4.3.4 提高波形分辨率的映射流程 | 第58-60页 |
4.4 模板测试模块的设计 | 第60-66页 |
4.4.1 波形提取与模板创建 | 第60-64页 |
4.4.2 违例信息的统计 | 第64-66页 |
4.4.3 违例波形的跟踪 | 第66页 |
4.5 直方图统计模块的设计 | 第66-68页 |
4.5.1 直方图统计的分析 | 第66-67页 |
4.5.2 直方图统计的实现 | 第67-68页 |
4.6 本章小结 | 第68-70页 |
第五章 实现与验证 | 第70-80页 |
5.1 开发平台与验证工具 | 第70-71页 |
5.2 高速信号采集和重构系统的验证 | 第71-75页 |
5.2.1 采集存储接口验证 | 第71-72页 |
5.2.2 波形扩展效果验证 | 第72页 |
5.2.3 触发精确定位验证 | 第72-73页 |
5.2.4 随机采样模块的验证 | 第73-75页 |
5.2.5 正弦插值效果验证 | 第75页 |
5.3 基于数字荧光的测试和分析模块的验证 | 第75-79页 |
5.3.1 波形刷新率的验证 | 第75-76页 |
5.3.2 颜色空间划分验证 | 第76-77页 |
5.3.3 模板测试验证 | 第77-79页 |
5.3.4 直方图统计验证 | 第79页 |
5.4 本章小结 | 第79-80页 |
第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
6.1 总结 | 第80页 |
6.2 展望 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-86页 |