摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第10-11页 |
缩略语对照表 | 第11-15页 |
第一章 绪论 | 第15-19页 |
1.1 选题背景 | 第15页 |
1.2 集成电路的研究现状 | 第15-16页 |
1.3 低功耗的研究意义 | 第16-17页 |
1.4 本文内容安排 | 第17-19页 |
第二章 CMOS电路低功耗设计原理 | 第19-25页 |
2.1 引言 | 第19页 |
2.2 CMOS电路功耗产生 | 第19-22页 |
2.2.1 动态功耗 | 第19-21页 |
2.2.2 静态功耗 | 第21-22页 |
2.3 CMOS电路功耗的优化 | 第22-23页 |
2.3.1 动态功耗的优化 | 第22-23页 |
2.3.2 静态功耗的优化 | 第23页 |
2.4 低功耗设计层次 | 第23-24页 |
2.5 本章小节 | 第24-25页 |
第三章 基带芯片中的低功耗设计 | 第25-35页 |
3.1 基带芯片简介 | 第25-27页 |
3.1.1 基于ARM的SOC架构 | 第25-26页 |
3.1.2 基带芯片架构 | 第26-27页 |
3.2 基带芯片低功耗设计技术 | 第27-33页 |
3.2.1 多电压域技术 | 第27-29页 |
3.2.2 门控时钟技术 | 第29页 |
3.2.3 门控电源技术 | 第29-32页 |
3.2.4 动态电压频率调节技术 | 第32-33页 |
3.3 本章小节 | 第33-35页 |
第四章 基带芯片中CPU的低功耗设计 | 第35-59页 |
4.1 CPU负载监测单元 | 第35-40页 |
4.1.1 状态监测(Time tracking)模块 | 第36-37页 |
4.1.2 状态计算(Averaging)模块 | 第37-38页 |
4.1.3 阈值比较(Threshold checking)模块 | 第38-39页 |
4.1.4 性能请求(Performance tracking)模块 | 第39-40页 |
4.2 CPU负载监测单元的验证 | 第40-47页 |
4.2.1 验证步骤及环境 | 第41-42页 |
4.2.2 测试平台的搭建 | 第42-43页 |
4.2.3 测试用例的编写 | 第43-44页 |
4.2.4 CPU负载监测单元的仿真 | 第44-47页 |
4.3 电压调节控制单元 | 第47-55页 |
4.3.1 VReq Map模块 | 第48-49页 |
4.3.2 Wait Clk Ack状态机 | 第49-51页 |
4.3.3 VStab Gen模块 | 第51页 |
4.3.4 电压梯度控制状态机 | 第51-55页 |
4.4 电压调节控制单元的验证 | 第55-58页 |
4.5 本章小节 | 第58-59页 |
第五章 总结 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-65页 |
作者简介 | 第65-66页 |