| 作者简历 | 第1-8页 |
| 摘要 | 第8-10页 |
| ABSTRACT | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| ·论文选题及其意义 | 第13-14页 |
| ·原位微区分析硫同位素的研究现状 | 第14-15页 |
| ·研究目标和研究方法 | 第15-17页 |
| 第二章 实验仪器简介 | 第17-21页 |
| ·MC-ICP-MS基本原理 | 第17-18页 |
| ·激光剥蚀系统及与质谱联用技术简介 | 第18-21页 |
| 第三章 LA-MC-ICP-MS硫化物和硫单质中硫同位素研究 | 第21-41页 |
| ·实验部分 | 第21-24页 |
| ·实验仪器 | 第21-22页 |
| ·标准和样品的制备 | 第22-24页 |
| ·同位素比值测定和数据处理 | 第24页 |
| ·实验结果和讨论 | 第24-41页 |
| ·不同锥组合和氮气加入对信号强度的影响 | 第24-27页 |
| ·氮气的加入对硫同位素多原离子干扰的影响 | 第27-29页 |
| ·氮气的加入对硫同位素比值和硫同位素比值稳定的影响 | 第29-31页 |
| ·样品粒度对分析硫同位素比值的准确度和精确度的影响 | 第31-33页 |
| ·激光能量密度和剥蚀模式对同位素分馏和基体效应的影响 | 第33-36页 |
| ·信号强度和精度的关系 | 第36-37页 |
| ·标准样品测试结果 | 第37-41页 |
| 第四章 结论与不足 | 第41-43页 |
| ·主要结论 | 第41-42页 |
| ·存在问题及下一步工作 | 第42-43页 |
| 致谢 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-50页 |
