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巨介电CaCu3Ti4O12体系的微观结构对介电/压敏性能的影响

摘要第1-5页
英文摘要第5-9页
第一章 绪论第9-22页
   ·研究背景及意义第9页
   ·电介质基础理论第9-14页
     ·电介质的极化和介电常数第9-11页
     ·电介质的极化机制第11-13页
     ·电介质的介电损耗第13-14页
   ·巨介电常数材料CaCu_3Ti_4O_(12)第14-20页
     ·巨介电常数材料研究背景第14-15页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)晶体结构第15-16页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)的巨介电效应/压敏性能及其起源第16-18页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)陶瓷的性能调控机理研究第18-20页
   ·本课题的研究内容和意义第20-22页
第二章 实验材料和方法第22-26页
   ·实验所用试剂和仪器第22-23页
     ·实验试剂第22页
     ·实验仪器第22-23页
   ·本课题技术路线第23-24页
   ·样品结构与性能检测方法第24-26页
     ·晶体结构表征第24页
     ·微观形貌表征第24页
     ·正电子寿命谱检测第24-25页
     ·介电性能和交流阻抗谱检测第25页
     ·压敏性能检测第25-26页
第三章 SnO_2掺杂对CaCu_3Ti_4O_(12)微观结构与介电性能影响第26-34页
   ·引言第26页
   ·实验第26-27页
   ·结果与讨论第27-32页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)-xSnO_2样品的晶体结构第27-29页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)-x SnO_2样品的微观形貌第29-30页
     ·CaCu_3Ti_4O_(12)-x SnO_2样品的介电性能第30-32页
   ·本章小结第32-34页
第四章 Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂对CaCu_3Ti_4O_(12)微结构与性能影响第34-48页
   ·引言第34页
   ·实验第34-35页
   ·结果与讨论第35-46页
     ·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的晶体结构第35-37页
     ·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的微观形貌第37-39页
     ·Gd~(3+)离子掺杂CCTO体系的正电子湮没寿命谱第39-41页
     ·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的介电性能第41-43页
     ·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的压敏性能第43-46页
   ·本章小结第46-48页
第五章 成型压力对CaCu_3Ti_4O_(12)微结构与介电/压敏性能影响第48-57页
   ·引言第48页
   ·实验第48-49页
   ·结果与讨论第49-56页
     ·不同成型压力制备CCTO的晶体结构第49-51页
     ·不同成型压力制备CCTO的微观形貌第51-52页
     ·不同成型压力制备CCTO的介电性能第52-54页
     ·不同成型压力制备CCTO的压敏性能第54-56页
   ·本章小结第56-57页
第六章 总结与展望第57-59页
   ·总结第57-58页
   ·展望第58-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-67页
附录 硕士期间发表论文目录第67页

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