摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-22页 |
·研究背景及意义 | 第9页 |
·电介质基础理论 | 第9-14页 |
·电介质的极化和介电常数 | 第9-11页 |
·电介质的极化机制 | 第11-13页 |
·电介质的介电损耗 | 第13-14页 |
·巨介电常数材料CaCu_3Ti_4O_(12) | 第14-20页 |
·巨介电常数材料研究背景 | 第14-15页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)晶体结构 | 第15-16页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)的巨介电效应/压敏性能及其起源 | 第16-18页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)陶瓷的性能调控机理研究 | 第18-20页 |
·本课题的研究内容和意义 | 第20-22页 |
第二章 实验材料和方法 | 第22-26页 |
·实验所用试剂和仪器 | 第22-23页 |
·实验试剂 | 第22页 |
·实验仪器 | 第22-23页 |
·本课题技术路线 | 第23-24页 |
·样品结构与性能检测方法 | 第24-26页 |
·晶体结构表征 | 第24页 |
·微观形貌表征 | 第24页 |
·正电子寿命谱检测 | 第24-25页 |
·介电性能和交流阻抗谱检测 | 第25页 |
·压敏性能检测 | 第25-26页 |
第三章 SnO_2掺杂对CaCu_3Ti_4O_(12)微观结构与介电性能影响 | 第26-34页 |
·引言 | 第26页 |
·实验 | 第26-27页 |
·结果与讨论 | 第27-32页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)-xSnO_2样品的晶体结构 | 第27-29页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)-x SnO_2样品的微观形貌 | 第29-30页 |
·CaCu_3Ti_4O_(12)-x SnO_2样品的介电性能 | 第30-32页 |
·本章小结 | 第32-34页 |
第四章 Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂对CaCu_3Ti_4O_(12)微结构与性能影响 | 第34-48页 |
·引言 | 第34页 |
·实验 | 第34-35页 |
·结果与讨论 | 第35-46页 |
·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的晶体结构 | 第35-37页 |
·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的微观形貌 | 第37-39页 |
·Gd~(3+)离子掺杂CCTO体系的正电子湮没寿命谱 | 第39-41页 |
·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的介电性能 | 第41-43页 |
·Gd~(3+)/Y~(3+)离子掺杂CCTO体系的压敏性能 | 第43-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
第五章 成型压力对CaCu_3Ti_4O_(12)微结构与介电/压敏性能影响 | 第48-57页 |
·引言 | 第48页 |
·实验 | 第48-49页 |
·结果与讨论 | 第49-56页 |
·不同成型压力制备CCTO的晶体结构 | 第49-51页 |
·不同成型压力制备CCTO的微观形貌 | 第51-52页 |
·不同成型压力制备CCTO的介电性能 | 第52-54页 |
·不同成型压力制备CCTO的压敏性能 | 第54-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
·总结 | 第57-58页 |
·展望 | 第58-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-67页 |
附录 硕士期间发表论文目录 | 第67页 |