基于分散隐藏策略的高容量FPGA芯核水印算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究目的与意义 | 第10-11页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·本文主要工作 | 第12-13页 |
| ·论文结构 | 第13-16页 |
| 第二章 相关技术基础 | 第16-32页 |
| ·现场可编程逻辑门阵列 FPGA 概述 | 第16-24页 |
| ·FPGA 的基本结构 | 第17-20页 |
| ·FPGA 设计流程与环境 | 第20-24页 |
| ·芯核水印技术 | 第24-31页 |
| ·芯核的概念与分类 | 第24-25页 |
| ·芯核水印的概念与特点 | 第25-26页 |
| ·芯核水印性能评估 | 第26-27页 |
| ·国内外研究现状 | 第27-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 基于分散隐藏的高容量FPGA芯核水印算法 | 第32-48页 |
| ·设计目标 | 第32页 |
| ·相关模型建立 | 第32-34页 |
| ·精简压缩模型 | 第32-33页 |
| ·分散隐藏策略模型 | 第33-34页 |
| ·芯核水印算法流程 | 第34-35页 |
| ·基本算法 | 第35-46页 |
| ·芯核水印生成算法 | 第36-40页 |
| ·芯核水印嵌入算法 | 第40-44页 |
| ·芯核水印提取算法 | 第44-46页 |
| ·算法分析 | 第46-47页 |
| ·可信度分析 | 第46页 |
| ·透明性分析 | 第46页 |
| ·性能开销分析 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 实验结果与比较 | 第48-56页 |
| ·实验结果 | 第48-50页 |
| ·仿真测试结果 | 第48-49页 |
| ·物理布局结果 | 第49-50页 |
| ·性能分析与比较 | 第50-54页 |
| ·水印容量 | 第50-51页 |
| ·额外开销 | 第51-53页 |
| ·安全性分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 结论与展望 | 第56-58页 |
| ·论文工作总结 | 第56页 |
| ·课题研究展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 附录A：攻读学位期间发表的学术论文 | 第64-66页 |
| 附录B：攻读学位期间所参与的研究项目 | 第66页 |
