数字电路板测试系统硬件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-16页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第13页 |
| ·数字电路板测试技术发展现状 | 第13-15页 |
| ·本文研究的主要内容及各章内容 | 第15-16页 |
| 第二章 数字电路板测试系统总体设计 | 第16-25页 |
| ·主要技术指标 | 第16页 |
| ·总体方案设计原则 | 第16-17页 |
| ·系统主要结构及功能 | 第17-18页 |
| ·系统总体方案设计 | 第18-24页 |
| ·上位机及 PXI 总线桥接方案设计 | 第18-19页 |
| ·测试向量发送子系统方案设计 | 第19-21页 |
| ·测试向量接收子系统方案设计 | 第21-22页 |
| ·系统各单板连接及时钟、电源方案设计 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 数字电路板测试系统电路设计 | 第25-41页 |
| ·系统电源模块设计 | 第25-27页 |
| ·时钟模块设计 | 第27-28页 |
| ·发送及接收控制模块设计 | 第28-31页 |
| ·FPGA 电源设计 | 第28-29页 |
| ·FPGA 时钟与复位电路设计 | 第29-30页 |
| ·FPGA 配置电路设计 | 第30-31页 |
| ·发送及接收缓存模块设计 | 第31-33页 |
| ·发送调理模块设计 | 第33-37页 |
| ·电平调节电路设计 | 第33-35页 |
| ·信号驱动电路设计 | 第35-37页 |
| ·接收调理模块设计 | 第37-38页 |
| ·电平调节电路设计 | 第37页 |
| ·比较电路设计 | 第37-38页 |
| ·PXI 总线桥接卡接口设计 | 第38-39页 |
| ·测试通道输入、输出状态的设置 | 第39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 数字电路板测试系统驱动程序设计 | 第41-58页 |
| ·课题使用的语言及开发工具 | 第41-43页 |
| ·Verilog HDL 介绍 | 第41页 |
| ·Quartus II 开发工具介绍 | 第41-42页 |
| ·Modelsim 仿真工具介绍 | 第42-43页 |
| ·时钟管理及复位设计 | 第43页 |
| ·PXI6534 通信接口设计 | 第43-47页 |
| ·PXI6534 接口介绍 | 第43-44页 |
| ·片选协议设计 | 第44-46页 |
| ·系统主状态机设计 | 第46-47页 |
| ·D/A 控制模块设计 | 第47-49页 |
| ·设置各通道 D/A 值 | 第47页 |
| ·D/A 串行控制器设计 | 第47-49页 |
| ·D/A 转换时序仿真结果 | 第49页 |
| ·SDRAM 控制器设计 | 第49-53页 |
| ·SDRAM 的基本操作 | 第49-50页 |
| ·SDRAM 状态机设计 | 第50-52页 |
| ·SDRAM 时序仿真结果 | 第52-53页 |
| ·测试向量发送控制模块设计 | 第53-55页 |
| ·暂存测试向量至 SDRAM | 第53-54页 |
| ·从 SDRAM 读出测试向量并发送 | 第54-55页 |
| ·测试向量接收控制模块设计 | 第55-56页 |
| ·暂存响应向量至 SDRAM | 第55-56页 |
| ·从 SDRAM 读出响应向量并上传 | 第56页 |
| ·系统短路保护及手动复位设计 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 测试系统调试与验证 | 第58-65页 |
| ·系统集成前测试 | 第58-61页 |
| ·系统电源模块调试 | 第58页 |
| ·FPGA 最小系统测试 | 第58-59页 |
| ·SDRAM 控制器测试 | 第59页 |
| ·测试电平调节电路测试 | 第59-60页 |
| ·发送驱动电路测试 | 第60页 |
| ·接收比较电路测试 | 第60-61页 |
| ·系统集成后测试 | 第61-63页 |
| ·测试结果与某产品对比 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65页 |
| ·展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第71页 |
