| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·课题背景 | 第8-9页 |
| ·国内外概况 | 第9-14页 |
| ·课题主要研究工作 | 第14-15页 |
| 2 ARM JTAG 调试技术 | 第15-24页 |
| ·IEEE 1149.1 JTAG 技术 | 第15-18页 |
| ·ARM 调试构架 | 第18-20页 |
| ·ARM 调试原理 | 第20-23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 3 ARM JTAG 调试工具总体设计 | 第24-31页 |
| ·调试工具总体设计 | 第24-29页 |
| ·简易JTAG 仿真器 | 第29页 |
| ·JTAG 调试接口层 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 4 JTAG 驱动实现 | 第31-55页 |
| ·普通JTAG 驱动实现 | 第31-47页 |
| ·RDI 标准的JTAG 驱动实现 | 第47-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 5 调试工具测试 | 第55-61页 |
| ·测试方案 | 第55-57页 |
| ·测试结果 | 第57-59页 |
| ·性能分析 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 6 结束语 | 第61-63页 |
| ·研究工作总结 | 第61页 |
| ·进一步的研究工作 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |