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半导体激光器及其列阵的无损检测技术研究

提要第1-8页
第一章 绪论第8-18页
   ·半导体激光器的发展与应用第8-10页
   ·半导体激光器的可靠性研究第10-15页
   ·课题来源及本论文主要工作内容第15-18页
第二章 半导体激光器电导数测试方法研究第18-42页
   ·半导体激光器的电导数特性第18-21页
   ·电导数测试方法第21-24页
   ·基于虚拟仪器技术的电导数测试系统第24-41页
     ·测试系统总体设计第24-28页
     ·相关硬件模块设计第28-31页
     ·软件系统设计第31-41页
   ·小结第41-42页
第三章 电导数参数与器件可靠性分析第42-61页
   ·引言第42页
   ·电导数参数与器件可靠性的关系第42-47页
     ·电导数参数的提取第42-45页
     ·电导数参数分析第45-47页
   ·典型器件测试结果分析第47-53页
     ·大功率 AlGaAs/GaAs 激光器的测试结果第47-51页
     ·大功率 InGaAsP/InGaP/GaAs 激光器的测试结果第51-53页
   ·结电压饱和特性的进一步讨论第53-61页
     ·h 值的理论推导第53-56页
     ·影响h 值的其它因素第56-59页
     ·实验结果讨论第59-61页
第四章 非线性扩散方程在电导数降噪中的应用第61-69页
   ·引言第61-63页
   ·线性方程——热方程第63-64页
   ·二阶非线性模型——PM 模型第64页
   ·PM 模型的两种变形——前后向扩散模型第64-66页
   ·数值解法及降噪实验第66-69页
第五章 高功率激光器列阵的电导数测试研究第69-76页
   ·引言第69页
   ·激光器列阵电导数测试系统第69-71页
   ·SM35-45 用于激光器列阵的驱动第71-75页
     ·SM35-45 的 SCPI 命令第71-72页
     ·SM35-45 在系统中的应用第72-75页
   ·小结第75-76页
第六章 激光器列阵的可靠性分析第76-102页
   ·引言第76页
   ·列阵激光器电导数测试结果分析第76-82页
   ·列阵及其组成单元电导数参数的研究第82-101页
     ·多管并联实验第82-86页
     ·列阵m 值与器件可靠性关系的研究第86-96页
     ·列阵单元阈值一致性的表征第96-100页
     ·并联实验结果的进一步分析第100-101页
   ·小结第101-102页
第七章 结束语第102-104页
参考文献第104-113页
攻读博士学位期间发表的论文及参与的项目第113-115页
致谢第115-116页
摘要第116-119页
Abstract第119-122页

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