提要 | 第1-8页 |
第一章 绪论 | 第8-18页 |
·半导体激光器的发展与应用 | 第8-10页 |
·半导体激光器的可靠性研究 | 第10-15页 |
·课题来源及本论文主要工作内容 | 第15-18页 |
第二章 半导体激光器电导数测试方法研究 | 第18-42页 |
·半导体激光器的电导数特性 | 第18-21页 |
·电导数测试方法 | 第21-24页 |
·基于虚拟仪器技术的电导数测试系统 | 第24-41页 |
·测试系统总体设计 | 第24-28页 |
·相关硬件模块设计 | 第28-31页 |
·软件系统设计 | 第31-41页 |
·小结 | 第41-42页 |
第三章 电导数参数与器件可靠性分析 | 第42-61页 |
·引言 | 第42页 |
·电导数参数与器件可靠性的关系 | 第42-47页 |
·电导数参数的提取 | 第42-45页 |
·电导数参数分析 | 第45-47页 |
·典型器件测试结果分析 | 第47-53页 |
·大功率 AlGaAs/GaAs 激光器的测试结果 | 第47-51页 |
·大功率 InGaAsP/InGaP/GaAs 激光器的测试结果 | 第51-53页 |
·结电压饱和特性的进一步讨论 | 第53-61页 |
·h 值的理论推导 | 第53-56页 |
·影响h 值的其它因素 | 第56-59页 |
·实验结果讨论 | 第59-61页 |
第四章 非线性扩散方程在电导数降噪中的应用 | 第61-69页 |
·引言 | 第61-63页 |
·线性方程——热方程 | 第63-64页 |
·二阶非线性模型——PM 模型 | 第64页 |
·PM 模型的两种变形——前后向扩散模型 | 第64-66页 |
·数值解法及降噪实验 | 第66-69页 |
第五章 高功率激光器列阵的电导数测试研究 | 第69-76页 |
·引言 | 第69页 |
·激光器列阵电导数测试系统 | 第69-71页 |
·SM35-45 用于激光器列阵的驱动 | 第71-75页 |
·SM35-45 的 SCPI 命令 | 第71-72页 |
·SM35-45 在系统中的应用 | 第72-75页 |
·小结 | 第75-76页 |
第六章 激光器列阵的可靠性分析 | 第76-102页 |
·引言 | 第76页 |
·列阵激光器电导数测试结果分析 | 第76-82页 |
·列阵及其组成单元电导数参数的研究 | 第82-101页 |
·多管并联实验 | 第82-86页 |
·列阵m 值与器件可靠性关系的研究 | 第86-96页 |
·列阵单元阈值一致性的表征 | 第96-100页 |
·并联实验结果的进一步分析 | 第100-101页 |
·小结 | 第101-102页 |
第七章 结束语 | 第102-104页 |
参考文献 | 第104-113页 |
攻读博士学位期间发表的论文及参与的项目 | 第113-115页 |
致谢 | 第115-116页 |
摘要 | 第116-119页 |
Abstract | 第119-122页 |