目录 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第8-18页 |
·交变磁场测量技术简介 | 第8-13页 |
·无损检测技术的重要意义 | 第8-9页 |
·交变磁场测量技术产生的背景及特点 | 第9-11页 |
·阵列传感器及独立分量分析技术在交变磁场测量中的应用 | 第11-13页 |
·有限元法在电磁场数值仿真中的应用 | 第13-15页 |
·课题的来源及研究意义 | 第15-16页 |
·论文的主要内容及论文安排 | 第16-17页 |
·本章小结 | 第17-18页 |
第二章 独立分量分析技术的研究现状和动态 | 第18-27页 |
·独立分量分析的研究现状与动态 | 第18-22页 |
·独立分量分析的算法研究 | 第18-20页 |
·独立分量分析的实际应用 | 第20-21页 |
·独立分量分析技术的研究重点和发展趋势 | 第21-22页 |
·独立分量分析技术的基本原理 | 第22-26页 |
·独立分量分析的数学模型 | 第22页 |
·有关信息论的基础理论 | 第22-24页 |
·独立分量分析技术常用的判据 | 第24-25页 |
·基于负熵判据的快速独立分量分析算法:Fast ICA | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第三章 裂纹扰动场的理论分析和特性研究 | 第27-37页 |
·交变磁场测量技术的研究现状与动态 | 第27-29页 |
·交变磁场测量技术的理论研究 | 第27页 |
·交变磁场测量技术的发展趋势 | 第27-28页 |
·交变磁场测量技术的实际应用研究 | 第28-29页 |
·交变磁场测量的数学模型 | 第29-30页 |
·裂纹扰动场对缺陷的定量描述 | 第30-36页 |
·裂纹扰动场特性分析 | 第30-33页 |
·裂纹扰动场Bz分量对缺陷长度的定量描述 | 第33-34页 |
·裂纹扰动场Bx分量对缺陷深度的定量描述 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 基于独立分量分析的多个裂纹分离的仿真研究 | 第37-52页 |
·仿真处理过程的说明 | 第37-38页 |
·噪声情况下对单个裂纹特征量分离的仿真研究 | 第38-45页 |
·仿真分析模型的描述 | 第38-39页 |
·裂纹扰动场Bx分量和噪声的分离 | 第39-43页 |
·Bx信号分离效果的比较 | 第43-44页 |
·裂纹扰动场Bz分量和噪声分离的仿真结果 | 第44-45页 |
·噪声情况下多个裂纹特征量分离的仿真研究 | 第45-51页 |
·仿真分析模型的描述 | 第45-46页 |
·对两个裂纹Bz信号的分离 | 第46-50页 |
·对多个缺陷Bx信号分离的仿真结果 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第五章 实验数据的处理 | 第52-63页 |
·检测系统的说明 | 第52-54页 |
·检测对象的说明 | 第52页 |
·检测系统的工作原理 | 第52-54页 |
·实验数据处理及结论 | 第54-58页 |
·独立分量分析技术的实时化探讨 | 第58-62页 |
·本章小节 | 第62-63页 |
第六章 结论和展望 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-74页 |
附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第74页 |