基于JTAG标准的通用交叉调试代理的设计和实现
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-11页 |
第一章 引言 | 第11-21页 |
·嵌入式交叉开发模式 | 第11页 |
·交叉调试概念 | 第11-12页 |
·交叉调试技术的发展现状 | 第12-19页 |
·课题的来源及研究内容 | 第19-20页 |
·本文的章节安排 | 第20-21页 |
第二章 片上调试技术 | 第21-29页 |
·JTAG 标准 | 第21-25页 |
·BDM 标准 | 第25-27页 |
·NEXUS 标准 | 第27-29页 |
第三章 SOPC 技术 | 第29-32页 |
·集成电路工艺的发展 | 第29页 |
·片上系统 | 第29-30页 |
·片上可编程系统 | 第30-32页 |
第四章 嵌入式处理器ARM7TDMI | 第32-35页 |
·ARM7TDMI 处理器结构 | 第32-33页 |
·ARM7TDMI 的片上调试逻辑 | 第33-35页 |
第五章 NIOSⅡ开发环境 | 第35-44页 |
·NIOSⅡ软核嵌入式处理器 | 第35-37页 |
·NIOSⅡ硬件开发环境 | 第37-39页 |
·NIOSⅡ硬件开发工具SOPC BUILDER | 第39-40页 |
·NIOSⅡ软件集成开发环境 | 第40-42页 |
·ΜC/OS-Ⅱ与LWIP | 第42-44页 |
第六章 通用交叉调试代理的设计 | 第44-48页 |
·通用交叉调试代理设计思路 | 第44-45页 |
·基于通用交叉调试代理的交叉调试系统 | 第45页 |
·通用交叉调试代理模型 | 第45-48页 |
第七章 通用交叉调试代理的验证实现 | 第48-70页 |
·交叉调试代理的硬件配置 | 第48-54页 |
·交叉调试代理的软件实现 | 第54-67页 |
·调试代理的启动运行 | 第67-69页 |
·宿主机端交互界面 | 第69-70页 |
第八章 总结 | 第70-71页 |
·论文完成的工作和特色 | 第70页 |
·存在的不足与进一步的展望 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第75-76页 |