高精度二维平面光栅测量系统及关键技术研究
第一章 绪论 | 第1-31页 |
·二维精密测量系统概述 | 第15-19页 |
·光栅测量系统发展现状及趋势 | 第19-29页 |
·光栅 | 第19-21页 |
·光栅位移测量技术概述 | 第21-27页 |
·莫尔条纹细分技术 | 第27页 |
·光栅测量系统国内外研究状况 | 第27-29页 |
·课题研究的来源、目的及内容 | 第29-31页 |
第二章 二维平面光栅位移测量的基本理论 | 第31-51页 |
·二维光栅的衍射特性分析 | 第31-42页 |
·二维反射光栅的衍射特性分析 | 第31-38页 |
·二维光栅的衍射方程 | 第38-42页 |
·二维光栅位移测量的基本原理 | 第42-47页 |
·光程差分析法 | 第43页 |
·激光多普勒分析法 | 第43-47页 |
·光源和光学镜片对测量的影响 | 第47-50页 |
·理论基础 | 第47-49页 |
·分光光束能量分析 | 第49-50页 |
·小结 | 第50-51页 |
第三章 二维平面光栅测量系统分析与设计 | 第51-77页 |
·系统结构组成 | 第51-52页 |
·莫尔条纹信号分析 | 第52-57页 |
·激光光束对干涉信号的影响 | 第53-55页 |
·导轨运动误差对莫尔条纹的影响 | 第55-56页 |
·莫尔条纹的空间分布 | 第56-57页 |
·光栅定位对莫尔条纹的影响 | 第57-59页 |
·光路设计 | 第59-64页 |
·光栅的选取 | 第59-60页 |
·测量光路的设计 | 第60-61页 |
·干涉检测光路设计 | 第61-63页 |
·其他光学元件 | 第63-64页 |
·激光光源分析 | 第64-69页 |
·激光二极管 | 第64-65页 |
·温度的影啊 | 第65-66页 |
·半导体激光器的稳频 | 第66页 |
·半导体激光器输出的光学准直 | 第66-69页 |
·信号检测系统设计 | 第69-74页 |
·光电检测元件 | 第69-71页 |
·光电检测电路 | 第71-74页 |
·系统实验 | 第74-76页 |
·小结 | 第76-77页 |
第四章 二维平面光栅测量系统信号处理技术 | 第77-97页 |
·光栅信号细分方法概述 | 第77-81页 |
·常用细分方法比较 | 第78-79页 |
·二维光栅测量信号计数细分技术 | 第79-81页 |
·基于BP神经网络的二维光栅信号细分方法 | 第81-92页 |
·二维光栅测量系统的计数细分系统 | 第82-84页 |
·正交信号零漂的消除 | 第84页 |
·基于BP网络的光栅细分技术 | 第84-92页 |
·二维光栅信号细分的实验研究 | 第92-96页 |
·大周期计数 | 第93页 |
·神经网络细分 | 第93-96页 |
·小结 | 第96-97页 |
第五章 二维平面光栅测量系统精度实验 | 第97-116页 |
·测量系统的误差来源分析 | 第97-98页 |
·光源误差分析 | 第98-101页 |
·激光波长波动引入的误差分析 | 第99-101页 |
·光源其他特性对测量的影响 | 第101页 |
·减小光源误差源途径 | 第101页 |
·二维光栅带来的误差 | 第101-105页 |
·光栅的刻划误差 | 第102-104页 |
·光栅基坯缺陷及尺面质量 | 第104-105页 |
·减小光栅误差影响方法 | 第105页 |
·光路结构误差分析 | 第105-109页 |
·光栅在X、Y轴定位误差 | 第105-107页 |
·光栅平面在Z轴的定位误差 | 第107-109页 |
·减小光栅定位误差影响方法 | 第109页 |
·电路误差分析 | 第109-111页 |
·光电转换误差 | 第109-110页 |
·计数细分误差 | 第110-111页 |
·测量环境误差影响分析 | 第111-113页 |
·温度影响 | 第111-112页 |
·振动及空气扰动的影响 | 第112-113页 |
·减小测量环境误差途径 | 第113页 |
·二维光栅测量系统精度实验 | 第113-115页 |
·测量系统精度评估 | 第113-114页 |
·测量系统精度实验 | 第114-115页 |
·小结 | 第115-116页 |
第六章 总结和展望 | 第116-118页 |
参考文献 | 第118-126页 |
攻读博士学位期间发表的论文 | 第126页 |