包络跟踪的Doherty功率放大器设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-11页 |
| ·选题背景 | 第8页 |
| ·发展现状 | 第8-9页 |
| ·文章结构安排 | 第9-11页 |
| 第二章 功率放大器基础 | 第11-19页 |
| ·功放管的工艺类型 | 第11-12页 |
| ·器件类型 | 第11页 |
| ·器件性能比较 | 第11-12页 |
| ·功放的高效化技术 | 第12-19页 |
| ·LINC 技术 | 第12-14页 |
| ·包络消除与恢复（EER）技术 | 第14-15页 |
| ·包络跟踪（ET）技术 | 第15-19页 |
| 第三章 包络跟踪的Doherty 功率放大器设计 | 第19-47页 |
| ·Doherty 功放原理 | 第19-26页 |
| ·有源负载牵引技术 | 第19-20页 |
| ·Doherty 功放的等效电路 | 第20-22页 |
| ·Doherty 功放的效率分析 | 第22-26页 |
| ·包络跟踪的Doherty 功放设计 | 第26-46页 |
| ·系统方案设计 | 第26-28页 |
| ·单管放大器的设计与仿真 | 第28-36页 |
| ·Dohety 放大器的设计与仿真 | 第36-42页 |
| ·包络跟踪方案设计 | 第42-45页 |
| ·包络跟踪的Doherty 功率放大器 | 第45-46页 |
| ·版图设计 | 第46-47页 |
| 第四章GaN 功放管的测试 | 第47-58页 |
| ·测试原理 | 第47-49页 |
| ·测试方案设计及结果 | 第49-56页 |
| ·测试夹具设计及建模 | 第49-54页 |
| ·夹具建模和GaN 晶体管测试结果 | 第54-56页 |
| ·结论 | 第56-58页 |
| 第五章 功放调试与测试 | 第58-73页 |
| ·测试环境 | 第58-59页 |
| ·驱动功放的调试与测试 | 第59-60页 |
| ·包络跟踪系统调试与测试 | 第60-62页 |
| ·主功放的调试与测试 | 第62-65页 |
| ·Doherty 功放调试与测试 | 第65-68页 |
| ·包络跟踪的Doherty 功放调试与测试 | 第68-71页 |
| ·结论 | 第71-73页 |
| 第六章 结论与展望 | 第73-75页 |
| ·结论 | 第73-74页 |
| ·展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 硕士期间取得的成果 | 第80-81页 |
| 附录 | 第81-83页 |
