基于PXI总线的ICF活化法中子产额测量系统的研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·惯性约束聚变(ICF)概述 | 第8-9页 |
| ·ICF实验诊断 | 第9-11页 |
| ·ICF实验诊断的对象和目的 | 第9-10页 |
| ·ICF实验诊断系统包含的内容 | 第10-11页 |
| ·ICF中子产额测量及多定标器国内外现状 | 第11-14页 |
| ·ICF中子产额测量 | 第11-12页 |
| ·多定标国内外现状 | 第12-14页 |
| 第二章 系统硬件设计 | 第14-26页 |
| ·总线平台选择 | 第14-17页 |
| ·总线的发展和特点 | 第14-16页 |
| ·PXI总线的独特优势 | 第16-17页 |
| ·系统数据采集整体设计 | 第17-18页 |
| ·PXI多路计数系统的设计 | 第18-22页 |
| ·触发脉冲多路放大 | 第19-20页 |
| ·计数系统接口设计 | 第20-21页 |
| ·计数模块设置 | 第21页 |
| ·定时模块设置 | 第21-22页 |
| ·计数器工作方式的选择 | 第22-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 系统软件设计 | 第26-34页 |
| ·应用软件开发平台的选择 | 第26-27页 |
| ·软件界面设置 | 第27-28页 |
| ·软件流程及功能需求 | 第28-29页 |
| ·软件功能的具体实现 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第四章 中子产额的计算和数据处理方法 | 第34-42页 |
| ·刻度因子与ICF中子产额的计算 | 第34-37页 |
| ·不确定度的计算 | 第37-38页 |
| ·实验数据处理方法 | 第38-41页 |
| ·最小二乘法 | 第38-40页 |
| ·各道求和法 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 系统性能测试与标定实验 | 第42-51页 |
| ·性能测试实验与结果 | 第42-44页 |
| ·标定实验 | 第44-49页 |
| ·系统工作条件 | 第44-45页 |
| ·实验布置与准备 | 第45-46页 |
| ·实验结果与数据处理 | 第46-49页 |
| ·实验总结与讨论 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 总结及研究展望 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 附录 | 第56页 |
