基于仿真的系统芯片功能验证技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
插图索引 | 第9-11页 |
表格索引 | 第11-12页 |
第一章 绪论 | 第12-31页 |
·研究背景 | 第12-15页 |
·验证方法概述 | 第15-23页 |
·形式验证 | 第15-19页 |
·仿真验证 | 第19-20页 |
·FPGA 验证 | 第20-23页 |
·相关研究 | 第23-28页 |
·验证向量生成 | 第23-24页 |
·覆盖率模型 | 第24-26页 |
·DUV 功能检查 | 第26-27页 |
·SoC 芯片级验证 | 第27-28页 |
·主要研究内容 | 第28-29页 |
·论文创新点及研究成果 | 第29-30页 |
·论文结构 | 第30-31页 |
第二章 覆盖率驱动的向量自动生成算法 | 第31-44页 |
·引言 | 第31-34页 |
·覆盖率驱动的验证向量生成 | 第34-37页 |
·遗传算法 | 第34-35页 |
·覆盖率驱动的验证向量生成算法思想 | 第35-37页 |
·基于遗传算法的验证向量自动生成 | 第37-40页 |
·编码方法 | 第37-38页 |
·Fitness 函数 | 第38-39页 |
·参数选取 | 第39-40页 |
·实验结果 | 第40-43页 |
·MMA 结构功能介绍 | 第40-42页 |
·MMA 验证结果 | 第42-43页 |
·本章小节 | 第43-44页 |
第三章 域故障模型和域覆盖率 | 第44-55页 |
·引言 | 第44-45页 |
·域故障模型 | 第45-48页 |
·域故障术语 | 第45-47页 |
·域故障模型 | 第47-48页 |
·测试点生成策略 | 第48-51页 |
·路径条件(path condition) | 第48-49页 |
·测试点生成策略 | 第49-51页 |
·域覆盖率 | 第51页 |
·实验结果 | 第51-54页 |
·本章小节 | 第54-55页 |
第四章 基于参考模型与断言的功能检查方法 | 第55-72页 |
·基于参考模型的功能检查方法 | 第55-62页 |
·相关研究 | 第56-57页 |
·MPEG-4 视频解码电路 | 第57-59页 |
·基于C 参考模型的功能验证技术 | 第59-62页 |
·结论 | 第62页 |
·基于断言的功能检查 | 第62-70页 |
·断言验证介绍 | 第63-65页 |
·SVA 的自动插入 | 第65-69页 |
·实验结果 | 第69-70页 |
·本章小节 | 第70-72页 |
第五章 基于 C 建模的 SOC 芯片级验证 | 第72-87页 |
·引言 | 第72-78页 |
·软硬件协同验证的一般方法 | 第73-76页 |
·相关研究 | 第76-78页 |
·基于C 语言建模的芯片级验证 | 第78-84页 |
·基于ARM 处理器的SoC 芯片级验证平台构架 | 第78-80页 |
·ARMulator 与硬件模型间的接口 | 第80-82页 |
·AMBA 仿真模型 | 第82-84页 |
·应用实例 | 第84-86页 |
·本章小节 | 第86-87页 |
第六章 GARFIELD 系列 SOC 验证实例 | 第87-102页 |
·引言 | 第87-89页 |
·Garfield 主要技术特点 | 第87-88页 |
·Garfield 结构 | 第88页 |
·Garfield 系列芯片验证方案 | 第88-89页 |
·模块验证 | 第89-99页 |
·E 验证语言 | 第89-90页 |
·Specman 平台简介 | 第90-92页 |
·AHB eVC 介绍 | 第92-93页 |
·LCDC 模块验证 | 第93-98页 |
·Domain 覆盖率 | 第98-99页 |
·芯片级验证 | 第99-101页 |
·本章小节 | 第101-102页 |
第七章 总结与展望 | 第102-104页 |
·总结 | 第102页 |
·展望 | 第102-104页 |
致谢 | 第104-105页 |
在博士学习阶段获得的研究成果 | 第105-107页 |
已发表录用论文 | 第105-106页 |
参加学术会议 | 第106页 |
参与研究的项目 | 第106页 |
获奖情况 | 第106页 |
参加设计的芯片 | 第106-107页 |
参考文献 | 第107-116页 |