| 致谢 | 第1-5页 |
| 中文摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-9页 |
| 第二章 锁相环频率合成器的原理与设计 | 第9-29页 |
| 2．1 锁相频率合成器的发展状况 | 第9-10页 |
| 2．2 锁相频率合成器的原理与组成部分 | 第10-22页 |
| 2．2．1 锁相环原理 | 第10-11页 |
| 2．2．2 锁相环主要组成部分分析 | 第11-22页 |
| 2．3 锁相频率合成器环路的噪声分析 | 第22-29页 |
| 2．3．1 锁相环传递函数分析 | 第22-23页 |
| 2．3．2 噪声源传递函数分析 | 第23-26页 |
| 2．3．3 环路带宽的设计 | 第26-27页 |
| 2．3．4 相位噪声基底分析 | 第27-29页 |
| 第三章 压控振荡器的原理与EDA设计仿真 | 第29-43页 |
| 3．1 射频振荡器的基本原理 | 第29-31页 |
| 3．1．1 振荡器原理 | 第29-30页 |
| 3．1．2 振荡器电路分析 | 第30-31页 |
| 3．2 振荡器的相位噪声分析 | 第31-33页 |
| 3．3 VCO的EDA软件仿真模型建立与分析 | 第33-40页 |
| 3．3．1 Colpitts压控振荡电路 | 第34-35页 |
| 3．3．2 VCO元器件的选取 | 第35-36页 |
| 3．3．3 ADS中的模型建立 | 第36-40页 |
| 3．4 ADS仿真结果 | 第40-42页 |
| 3．5 仿真结论 | 第42-43页 |
| 第四章 VCO的工艺设计和实验结果 | 第43-46页 |
| 4．1 VCO的调试 | 第43-44页 |
| 4．2 实验数据 | 第44-45页 |
| 4．3 结论 | 第45-46页 |
| 第五章 锁相环频率合成器的整体设计与实验 | 第46-61页 |
| 5．1 锁相频率合成器整体设计 | 第46-50页 |
| 5．1．1 锁相频率合成器芯片简介 | 第46-48页 |
| 5．1．2 用ADF4212实现的锁相频率合成器及其控制方法 | 第48-50页 |
| 5．2 配电路和定向耦合器电路的设计 | 第50-53页 |
| 5．3 ADIsimPLL仿真软件的仿真结果 | 第53-54页 |
| 5．4 频率合成器的实验结果 | 第54-61页 |
| 5．4．1 信号频谱纯度与相位噪声测量 | 第55-59页 |
| 5．4．2 频率稳定度测试 | 第59-61页 |
| 结束语 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录A 本课题所用到的ADS仿真技术 | 第66-69页 |
| A．1 S参数仿真 | 第66页 |
| A．2 HB谐波分析 | 第66-69页 |
| 附录B 单片机控制程序源代码 | 第69-73页 |
| 附录C 电路原理图 | 第73-74页 |
| 附录D 个人简历、发表的论文 | 第74页 |