二元系大功率压电陶瓷结构和性能的研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 前言 | 第8-9页 |
| 第一章 文献综述 | 第9-27页 |
| ·压电效应 | 第9-11页 |
| ·压电效应的产生机理 | 第9-10页 |
| ·陶瓷的压电性 | 第10-11页 |
| ·压电陶瓷的发展史 | 第11-12页 |
| ·PZT 二元系压电陶瓷 | 第12-13页 |
| ·掺杂改性 | 第13-15页 |
| ·等价离子的置换 | 第13-14页 |
| ·高价离子置换 | 第14-15页 |
| ·低价离子的置换 | 第15页 |
| ·制备压电陶的主要工艺 | 第15-19页 |
| ·合成工艺 | 第15-16页 |
| ·组成对烧结的影响 | 第16页 |
| ·烧结工艺 | 第16-17页 |
| ·极化工艺 | 第17-19页 |
| ·压电陶瓷的主要性能参数 | 第19-21页 |
| ·压电陶瓷的介电常数 | 第19页 |
| ·压电系数 | 第19页 |
| ·机械品质因子Qm | 第19页 |
| ·压电陶瓷的介电损耗 | 第19-21页 |
| ·机电耦合系数Kp | 第21页 |
| ·压电陶瓷的应用 | 第21-23页 |
| ·二元系大功率用压电陶瓷材料 | 第23-24页 |
| ·压电陶瓷的温度稳定性 | 第24-26页 |
| ·本文选择PZT 二元体系的理由 | 第26页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第26-27页 |
| 第二章 实验过程及测试 | 第27-32页 |
| ·原料及设备 | 第27页 |
| ·实验准备 | 第27-28页 |
| ·工艺选取 | 第28页 |
| ·性能测试及仪器装置 | 第28-32页 |
| ·介电常数ε及介电损耗tanδ | 第28-29页 |
| ·压电应变常数d_(33) | 第29页 |
| ·机电耦合系数Kp 和机械品质因素Qm | 第29-30页 |
| ·体积密度的测量 | 第30页 |
| ·居里温度T_C | 第30-31页 |
| ·电阻率 | 第31页 |
| ·显微结构及相组成 | 第31页 |
| ·温度稳定性 | 第31-32页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第32-59页 |
| ·系列A：PSZT | 第32-46页 |
| ·预烧与烧结温度的选择 | 第32-33页 |
| ·样品的XRD 测试及合成温度的确定 | 第33-34页 |
| ·烧成温度的确定 | 第34-35页 |
| ·烧银温度 | 第35-37页 |
| ·极化工艺的确定 | 第37-40页 |
| ·组成对居里温度的影响 | 第40-41页 |
| ·组成对压电性能的影响 | 第41-42页 |
| ·Sr~(2+)对压电性能的影响 | 第42页 |
| ·组成与介电常数和损耗的关系 | 第42-43页 |
| ·各组成点所在相区的确定 | 第43页 |
| ·微观结构和组成的关系 | 第43-44页 |
| ·频率温度稳定性 | 第44-45页 |
| ·本章结论 | 第45-46页 |
| ·系列B：PSZT+Ce | 第46-52页 |
| ·物相组成和XRD | 第46-47页 |
| ·显微结构 | 第47-48页 |
| ·介电性能 | 第48-49页 |
| ·压电性能 | 第49-50页 |
| ·频率温度稳定性 | 第50-52页 |
| ·本章结论 | 第52页 |
| ·系列C：PSZT+Nb | 第52-59页 |
| ·物相组成 XRD | 第52-53页 |
| ·SEM 分析 | 第53-54页 |
| ·压电性能和掺杂的关系 | 第54-56页 |
| ·温度稳定性 | 第56-58页 |
| ·本章结论 | 第58-59页 |
| 第四章 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-67页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
